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篤摯儀器(上海)有限公司

主營(yíng)產(chǎn)品: 美能達(dá)色差計(jì),尼克斯測(cè)厚儀,三維掃描儀,byk光澤度儀,api激光干涉儀,涂鍍層測(cè)厚儀,防夾力測(cè)試儀

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Surtronic DUOtaylor hobson表面粗糙度儀 價(jià)格
taylor hobson表面粗糙度儀 價(jià)格
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號(hào) Surtronic DUO
  • 品牌 TaylorHobson/英國(guó)泰勒霍普森
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 所在地 上海市

更新時(shí)間:2024-08-31 15:57:09瀏覽次數(shù):2939

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【簡(jiǎn)單介紹】
產(chǎn)地類別 進(jìn)口
taylor hobson表面粗糙度儀 價(jià)格
英國(guó)泰勒SURTRONIC DUO是英國(guó)泰勒公司 新型粗糙度儀,SURTRONIC DUO新型粗糙度儀可測(cè) Ra , Rz 兩種參數(shù)。 DUO 具有紅外接口可在距離被測(cè)物 1 米處進(jìn)行測(cè)量。
【詳細(xì)說明】

taylor hobson表面粗糙度儀 價(jià)格-surtronic duo

 

 

詳細(xì)說明

英國(guó)泰勒SURTRONIC DUO表面粗糙度儀

英國(guó)泰勒SURTRONIC DUO是英國(guó)泰勒公司 新型粗糙度儀,SURTRONIC DUO新型粗糙度儀可測(cè) Ra , Rz 兩種參數(shù)。 DUO 具有紅外接口可在距離被測(cè)物 1 米處進(jìn)行測(cè)量。
SURTRONIC DUO新型粗糙度儀通過儀器底部傳感器直接接觸被測(cè)工件進(jìn)行測(cè)量,其設(shè)計(jì)可滿足不同的技術(shù)與工作環(huán)境要求。
SURTRONIC DUO新型粗糙度儀快速測(cè)量 在儀器底端接觸工件瞬間,即可讀出測(cè)量值。全部操作步驟僅需簡(jiǎn)單教授即可
攜帶方便 DUO粗糙度儀 可應(yīng)用于車間、實(shí)驗(yàn)室的測(cè)量。也可方便置于衣服口袋中或掛在腰間。
經(jīng)外接口 操作者可在距離被測(cè)工件 1m 處操作測(cè)量。
校準(zhǔn)方便 DUO 粗糙度儀具有自身校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn),可預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)值,通過 LCD 顯示出來。
測(cè)針保護(hù) 不用時(shí),設(shè)“ park ”位置可全面保護(hù)測(cè)針。
人體工程學(xué)設(shè)計(jì)
DUO新型粗糙度儀量 程: 200um
行 程: 5mm
取樣長(zhǎng)度: 0.8mm+/-15%
參 數(shù): Ra : 0.1um-40um Ra : 0.1um-199um
精 度: Ra:0.1um Rz:0.1um
尺 寸: 125*80*38mm
檢測(cè)方式: 壓電式
DUO新型粗糙度儀重 量: 200g
英國(guó)泰勒SURTRONIC DUO表面粗糙度儀圖片

 

英國(guó)泰勒SURTRONIC DUO表面粗糙度儀

 

新型號(hào)surtronic duo粗糙度儀

什么是導(dǎo)塊?

surtronic duo是導(dǎo)塊式設(shè)備。導(dǎo)塊可引導(dǎo)傳感器沿著工件移動(dòng),使工件自身形成測(cè)量基準(zhǔn)。此方法無需進(jìn)行調(diào)平,通??梢暂p松設(shè)置。而且測(cè)量回路較小,減輕了振動(dòng)的影響。

導(dǎo)塊是測(cè)量?jī)x的組成部分,半徑足夠大,避免了測(cè)量面上的高低不平引起的z值變化。測(cè)針和導(dǎo)塊在高度(z)方向的移動(dòng)各自獨(dú)立,但在測(cè)量方向上同時(shí)移動(dòng)。測(cè)針和導(dǎo)塊在z方向會(huì)記錄為表面偏差。

導(dǎo)塊會(huì)充當(dāng)機(jī)械濾波器,去除組件的波紋度數(shù)據(jù)點(diǎn),保留粗糙度數(shù)據(jù)。并且不會(huì)記錄超過導(dǎo)塊直徑的波長(zhǎng)。

測(cè)針尺寸有何差別?

這些儀器使用半徑為5um的測(cè)針。它具有以下三方面特性,使得儀器能成為檢查粗糙度的便攜工具:

*耐用性-即使誤操作也不會(huì)輕易受損

*維護(hù)性-能輕松去除在使用過程中所積累的灰塵油污

*適用性-要用作濾波器,去除的表面頻率,這些頻率在受控環(huán)境中的測(cè)量結(jié)果更可靠

其它泰勒儀器使用半徑為2um的測(cè)針。此較小的半徑搭配接觸力較小的感應(yīng)測(cè)量頭使用時(shí),能用于分析小的表面缺陷



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