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掃描電鏡/FIB原位納米壓痕儀Hysitron PI 88
  • 掃描電鏡/FIB原位納米壓痕儀Hysitron PI 88

貨物所在地:上海上海市

地: 美國

更新時(shí)間:2024-09-06 08:52:39

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掃描電鏡/FIB原位納米壓痕儀Hysitron PI 88是布魯克公司生產(chǎn)的新一代原位納米力學(xué)測試系統(tǒng),其大特點(diǎn)是系統(tǒng)設(shè)計(jì)高度模塊化,后期可在已有系統(tǒng)上自行配置并拓展其他功能。真正實(shí)現(xiàn)直接觀察條件下的定量納米力學(xué)表征;高級(jí)的XYZ方向樣品定位,配合可選傾斜和旋轉(zhuǎn)樣品臺(tái);模塊化設(shè)計(jì),可搭載全套測試技術(shù),包括800℃熱臺(tái),劃痕,擴(kuò)展量程的傳感器,電學(xué)偏壓等。

掃描電鏡/FIB原位納米壓痕儀:布魯克Hysitron PI 88

 PI 88是布魯克公司生產(chǎn)的新一代原位納米力學(xué)測試系統(tǒng),其大特點(diǎn)是系統(tǒng)設(shè)計(jì)高度模塊化,后期可在已有系統(tǒng)上自行配置并拓展其他功能。

真正實(shí)現(xiàn)直接觀察條件下的定量納米力學(xué)表征;高級(jí)的XYZ方向樣品定位,配合可選傾斜和旋轉(zhuǎn)樣品臺(tái);模塊化設(shè)計(jì),可搭載全套測試技術(shù),包括800℃熱臺(tái),劃痕,擴(kuò)展量程的傳感器,電學(xué)偏壓等。

輕松搭載定量納米力學(xué)測試

深入了解納米尺度下的力學(xué)性能

在您實(shí)驗(yàn)室已有的熟知儀器上獲得力學(xué)數(shù)據(jù),在您電鏡上擴(kuò)展如下功能,包括:

1.納米壓痕微懸臂彎曲

2.微柱或微顆粒壓縮

3.拉伸測試

4.納米劃痕

整個(gè)實(shí)驗(yàn)過程中始終如一的穩(wěn)定性

布魯克的原位解決方案專為電鏡環(huán)境下的出眾性能而設(shè)計(jì)。真空相容性/檢測器定位和機(jī)架柔度等相關(guān)因素均被嚴(yán)格考慮。我們專屬的傳感器技術(shù)確保實(shí)驗(yàn)過程中精細(xì)納米力學(xué)測量所需的靈敏度和穩(wěn)定性,而數(shù)位控制器提供了超快的反饋和數(shù)據(jù)采集率。因而應(yīng)力誘發(fā)變形過程之前、之中、之后都得以高速捕獲加以分析。

穩(wěn)定性

Hysitron PI88 配套一套真空適用的布魯克納米尺度傳感器和導(dǎo)電金剛石壓頭。通過傳感器中的靜電力施以載荷,電容記錄位移。低電流設(shè)計(jì)帶來的超低溫漂保證了靈敏度。與傳感器配合的是一套在XYZ三軸方向均>8mm的高級(jí)樣品定位載臺(tái),可實(shí)現(xiàn)在較大樣品上超好的橫向精度以及線性和靈活定位。在這一簡潔平臺(tái)機(jī)械繼承的載臺(tái)和傳感器為使用者提供了納米力學(xué)測試所需的穩(wěn)定、剛性的基礎(chǔ)。

該系統(tǒng)通過視頻接口將材料的力學(xué)數(shù)據(jù)(載荷-位移曲線)與相應(yīng)SEM視頻之間實(shí)現(xiàn)時(shí)間同步,允許研究者在整個(gè)測試過程中定位壓頭并對(duì)變形過程成像。解決了傳統(tǒng)納米壓痕方法,只能通過光學(xué)顯微鏡或原位掃描成像觀察壓痕前后的形貌變化,因無法監(jiān)測中間過程,而終對(duì)載荷-位移曲線上的一些突變無法給出解釋甚至錯(cuò)誤解釋的問題。

PI 88安裝于SEM,可以施加載荷,檢測位移,在電鏡下進(jìn)行壓痕、壓縮、彎曲、劃痕、拉伸和疲勞等力學(xué)性能測試;此外,通過升級(jí)電學(xué)、加熱模塊,還可研究材料在力、電、熱等多場耦合條件下結(jié)構(gòu)與性能的關(guān)系。

PI88 Heating mode

800°C Heating

 

PI88 electrical charateization module

Electrical Characterization

Push to pull

Push-to-Pull Device

PI88 nanodynamic mode

nanoDynamic Mode

PI88 Nanoscratch

nanoScratch Mode

 

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