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產(chǎn)品簡介
詳細介紹
湖北快速溫度變化試驗箱
產(chǎn)品&規(guī)范 | 廠商名稱 | 高溫 | 低溫 | 溫變率 | 循環(huán)數(shù) | 循環(huán) | 備注 |
MIL-STD-2164、GJB-1032-90 |
| 工作極限溫度 | 工作極限溫度 | 5℃/min | 10～12 | 3h20min |
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MIL-344A-4-16 | 設備或系統(tǒng) | 71℃ | -54℃ | 5℃/min | 10 |
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MIL-2164A-19 |
| 工作極限溫度 | 工作極限溫度 | 10℃/min | 10 |
| 駐留時間為內(nèi)部達到溫度10℃時 |
NABMAT-9492 | 設備或系統(tǒng) | 55℃ | -53℃ | 15℃/min | 10 |
| 駐留時間為內(nèi)部達到溫度5℃時 |
GJB/Z34-5.1.6 | 組件 | 85℃ | -55℃ | 15℃/min | ≧25 |
| 達到溫度穩(wěn)定的時間 |
GJB/Z34-5.1.6 | 設備或系統(tǒng) | 70℃ | -55℃ | 5℃/min | ≧10 |
| 達到溫度穩(wěn)定的時間 |
筆記型計算機 | 主機板廠商 | 85℃ | -40℃ | 15℃/min |
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Lab Companion 湖北快速溫度變化試驗箱 Fast Temperature Cycle Test Chamber滿足以下標準
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術條件
GB/T 10586 -2006 濕熱試驗箱技術條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫
GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗
GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）
GB/T 2423.22-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 總則
GJB 150.3A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗
GJB 150.4A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第4部分：低溫試驗
GJB 150.9A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第9部分：濕熱試驗
產(chǎn)品&規(guī)范 | 廠商名稱 | 高溫 | 低溫 | 溫變率 | 循環(huán)數(shù) | 循環(huán) | 備注 |
MIL-STD-2164、GJB-1032-90 |
| 工作極限溫度 | 工作極限溫度 | 5℃/min | 10～12 | 3h20min |
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MIL-344A-4-16 | 設備或系統(tǒng) | 71℃ | -54℃ | 5℃/min | 10 |
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MIL-2164A-19 |
| 工作極限溫度 | 工作極限溫度 | 10℃/min | 10 |
| 駐留時間為內(nèi)部達到溫度10℃時 |
NABMAT-9492 | 設備或系統(tǒng) | 55℃ | -53℃ | 15℃/min | 10 |
| 駐留時間為內(nèi)部達到溫度5℃時 |
GJB/Z34-5.1.6 | 組件 | 85℃ | -55℃ | 15℃/min | ≧25 |
| 達到溫度穩(wěn)定的時間 |
GJB/Z34-5.1.6 | 設備或系統(tǒng) | 70℃ | -55℃ | 5℃/min | ≧10 |
| 達到溫度穩(wěn)定的時間 |
筆記型計算機 | 主機板廠商 | 85℃ | -40℃ | 15℃/min |
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