產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
缺陷檢測原理
電致發(fā)光亮度正比于少子擴(kuò)散長度:
對太陽能電池/組件加載電壓后,使之發(fā)光,再利用近紅外相機(jī)攝取其發(fā)光
影像,因電致發(fā)光亮度正比于少子擴(kuò)散長度,缺陷處因具有較低的少子擴(kuò)散
長度而發(fā)出較弱的光,從而形成較暗的影像。
有效定位缺陷類型:
通過對產(chǎn)品缺陷圖像的觀察 通過對產(chǎn)品缺陷圖像的觀察,可以有效的發(fā)現(xiàn)硅片 可以有效的發(fā)現(xiàn)硅片、擴(kuò)散、刻蝕、印刷、燒結(jié)等工藝過程存在的問題,方便進(jìn)行分析以及問題的解決,對提高產(chǎn)品質(zhì)量
和產(chǎn)品效率,改善工藝和穩(wěn)定產(chǎn)量起到了的幫助作用。