PTTC-300型高精度微分頭計量儀器，硬質(zhì)合金測量面，平面測頭型式，測量范圍0~25mm。該微分頭適用于組合各種精密儀器、設(shè)備的微調(diào)與測量。（可定制各類非標(biāo)微分頭）

精密微分頭螺旋測微器計量儀器，硬質(zhì)合金測量面，平面測頭型式，測量范圍0~25mm。該微分頭適用于組合各種精密儀器、設(shè)備的微調(diào)與測量。（可定制各類非標(biāo)微分頭）

精密微分頭螺旋測微器計量儀器，硬質(zhì)合金測量面，平面測頭型式，測量范圍0~25mm。該微分頭適用于組合各種精密儀器、設(shè)備的微調(diào)與測量。（可定制各類非標(biāo)微分頭）

精密微分頭螺旋測微器計量儀器，硬質(zhì)合金測量面，平面測頭型式，測量范圍0~25mm。該微分頭適用于組合各種精密儀器、設(shè)備的微調(diào)與測量。（可定制各類非標(biāo)微分頭）

精密微分頭螺旋測微器計量儀器，硬質(zhì)合金測量面，平面測頭型式，測量范圍0~25mm。該微分頭適用于組合各種精密儀器、設(shè)備的微調(diào)與測量。（可定制各類非標(biāo)微分頭）

   PTTC-300型高精度微分頭計量儀器，位移變化讀數(shù)：

       L=（a+0.001b+0.0001c）-(a₀+0.001b₀+0.001c₀)

               a—內(nèi)筒毫米刻線讀數(shù)

               b—外筒刻線讀數(shù)

               c—游標(biāo)刻線讀數(shù)

               a₀ b₀ c₀ 為相應(yīng)位移變化前讀數(shù)

微分測量頭讀數(shù)內(nèi)筒軸向刻度0.5mm/格
微分測量頭讀數(shù)外筒圓周刻度0.005mm/格
微分測量頭精度示值誤差指標(biāo)分度值0.0005mm
精度 ±0.0005mm