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型號:CSK-IIIA
材質:20#
公稱尺寸:（mm）300×150×30
行位公差（國標）:±0.10×0.05×0.05
（⊥）: ⊥＜0.05
（∥） :∥＜0.03
（Ra）: Ra≤3.2
7-直徑1×6:行位公差±0.10
2-R10: 行位公差±0.10
產品簡介
詳細介紹
CSK-IIIA超聲波標準試塊
型號:CSK-IIIA
材質:20#
公稱尺寸:(mm)300×150×30
行位公差(國標):±0.10×0.05×0.05
(⊥): ⊥＜0.05
(∥) :∥＜0.03
(Ra): Ra≤3.2
7-直徑1×6:行位公差±0.10
2-R10: 行位公差±0.10
試塊檢測報告:
超聲波探傷 | |||
檢測儀器 | CTS-26 | 探頭 | 2.5P直徑20 |
檢測部位 | 平面 | 耦合劑 | 機油 |
增益 | 80% | 抑制 | 關 |
衰減 | 42db | ||
探傷結果 | 材質均勻,無雜質,無影響使用缺陷. | ||
試塊材質符合GB/T699-1999(優(yōu)質碳素結構鋼)標準要求. | |||
金相分析:晶粒度7-8級 | |||
備注:校準(檢驗)所用主要計量標準器
1.游標卡尺,2.千分尺3.微孔測量儀,4.三坐標測量儀,5.超聲波探傷儀,6.平底孔硅橡膠覆膜檢驗,7.萬能金相顯微鏡,8.樣板平尺,9.粗糙度儀.
CSK-IIIA超聲波標準試塊
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