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篤摯儀器（上海）有限公司
中級(jí)會(huì)員·10年
EPK測(cè)厚儀MiniTest720測(cè)厚儀
| 參考價(jià): | 面議 |
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)- 產(chǎn)品型號(hào)
- ElektroPhysik/德國(guó)EPK 品牌
- 代理商 廠商性質(zhì)
- 上海市 所在地
訪問(wèn)次數(shù)：913更新時(shí)間：2024-09-25 21:29:18
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
| 價(jià)格區(qū)間 | 5千-1萬(wàn) |
|---|
產(chǎn)品介紹
EPK測(cè)厚儀MiniTest720測(cè)厚儀
增加了測(cè)量速度設(shè)置選項(xiàng)
MINITEST 700系列涂層測(cè)厚儀可以讓您輕松變換測(cè)量需求。在對(duì)精度要求不高的條件下，您可以短時(shí)間測(cè)量大量數(shù)值；也可以只測(cè)量少數(shù)幾個(gè)數(shù)值，但要求精度很高，您只需選擇相應(yīng)的模式就可以做到。測(cè)量值超過(guò)您所設(shè)定的極限值時(shí)，儀器會(huì)報(bào)警，保證您即使在快速模式下也不會(huì)錯(cuò)過(guò)任何信息。儀器具備聲、光報(bào)警，在極限范圍內(nèi)用綠色LED燈表示，超過(guò)極限值則用紅色LED燈提示。
使用簡(jiǎn)單方便
MINITEST 700系列涂層測(cè)厚儀按照人體工學(xué)設(shè)計(jì)，外形很適合人手掌握。為了質(zhì)量控制和檢驗(yàn)的靈活性，MINITEST 740可以輕易由內(nèi)置探頭變換為外置探頭，方便測(cè)量難以到達(dá)的部位。MINITEST 700系列涂層測(cè)厚儀可以滿(mǎn)足您所有涂層測(cè)量需求：如果您想單手測(cè)量，可以選擇內(nèi)置探頭的MINITEST 720。MINITEST 730則是外置探頭的。所有型號(hào)都配有超大、背光的顯示屏，顯示內(nèi)容可以180度旋轉(zhuǎn)，方便您讀取數(shù)據(jù)。
預(yù)設(shè)選項(xiàng)節(jié)省您的時(shí)間和金錢(qián)
所有MINITEST 700系列涂層測(cè)厚儀的探頭都可以對(duì)不規(guī)則形狀表面做出補(bǔ)償。當(dāng)您在無(wú)涂層基體上校零時(shí)，整個(gè)量程范圍都在這個(gè)特定的形狀和材料基礎(chǔ)上進(jìn)行校準(zhǔn)。為節(jié)省您的時(shí)間和金錢(qián)，儀器預(yù)設(shè)了大量校準(zhǔn)方法，適用于各種表面情況和精度要求。您可選擇出廠校準(zhǔn)，零點(diǎn)校準(zhǔn)，兩點(diǎn)校準(zhǔn)和三點(diǎn)校準(zhǔn)。另外，還有針對(duì)不同粗糙程度的粗糙度校準(zhǔn)。FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體類(lèi)型避免操作者犯錯(cuò)。為適應(yīng)銷(xiāo)售需要，MINITEST 700系列涂層測(cè)厚儀滿(mǎn)足各種標(biāo)準(zhǔn)：SSPC-PA2、ISO、瑞典（SS184160）、澳大利亞（AS 3894.3）、ISO 19840和ASTM D7091（以前的D1186和D1400）。
EPK測(cè)厚儀MiniTest720測(cè)厚儀
技術(shù)參數(shù)
探頭 特性 | F1.5，N0.7，F(xiàn)N1.5 | F2 | F5，N2.5，F(xiàn)N5 | F15 | ||
F | N | F | F | N | F | |
EPK測(cè)厚儀測(cè)量范圍 | 0-1.5mm | 0-0.7mm | 0-2mm | 0-5mm | 0-2.5mm | 0-15mm |
EPK測(cè)厚儀使用范圍 | 小工件，薄涂層，跟測(cè)量支架一起使用 | 粗糙表面 | 標(biāo)準(zhǔn)探頭，使用廣泛 | 厚涂層 | ||
測(cè)量原理 | 磁感應(yīng) | 電渦流 | 磁感應(yīng) | 磁感應(yīng) | 電渦流 | 磁感應(yīng) |
信號(hào)處理 | 探頭內(nèi)部32位信號(hào)處理（SIDSP） | |||||
度 | ±（1μm 0.75%讀值） | ±（1.5μm 0.75%讀值） | ±（5μm 0.75%讀值） | |||
重復(fù)性 | ±（0.5μm 0.5%讀值） | ±（0.8μm 0.5%讀值） | ±（2.5μm 0.5%讀值） | |||
低端分辨率 | 0.05μm | 0.1μm | 1μm | |||
zui小曲率半徑（凸） | 1.0mm | 1.5mm | 5mm | |||
zui小曲率半徑（凹，外置探頭） | 7.5mm | 10mm | 25mm | |||
zui小曲率半徑（凹，內(nèi)置探頭） | 30mm | 30mm | 30mm | |||
zui小測(cè)量面積 | Φ5mm | Φ10mm | Φ25mm | |||
zui小基體厚度 | 0.3mm | 40μm | 0.5mm | 0.5mm | 40μm | 1mm |
連續(xù)模式下測(cè)量速度 | 每秒20個(gè)讀數(shù) | |||||
單值模式下zui大測(cè)量速度 | 每分鐘70個(gè)讀數(shù) | |||||
SIDSP技術(shù)詳解
MiniTest 720/730/740涂層測(cè)厚儀
-創(chuàng)新的SIDSP（探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理）技術(shù)提升了測(cè)量的性
-測(cè)量范圍達(dá)15mm，可更換F、N或FN探頭，供內(nèi)置或外接探頭使用
-FN探頭自動(dòng)識(shí)別F（鐵磁性）或N（非磁性）基體，操作方便不易出錯(cuò)
