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雙層鎳鍍層測(cè)厚儀Couloscope CMS2 STEP

廣泛應(yīng)用的標(biāo)準(zhǔn)支架V18和支架V27用于測(cè)量導(dǎo)線上涂層的厚度

COULOSCOPE CMS STEP 雙層鎳鍍層測(cè)量版本
Couloscope CMS2 STEP 電解測(cè)厚儀
4種不同類型的測(cè)量臺(tái)適合于測(cè)量各種種類的被測(cè)物體。

Couloscope CMS2 STEP 庫(kù)侖測(cè)電位差測(cè)厚儀

PCB涂層厚度測(cè)量設(shè)計(jì)用于測(cè)量任何金屬涂層的厚度，如任何基材上的多層。 該器件通過(guò)陽(yáng)極溶解（DIN EN ISO 2177）根據(jù)庫(kù)侖法進(jìn)行工作。 易于操作和菜單支持的操作員方向使得該設(shè)備非常適用于電鍍領(lǐng)域的生產(chǎn)監(jiān)控和端部檢測(cè)。
該機(jī)器具有近100種預(yù)定義的應(yīng)用，用于測(cè)量不同的涂層系統(tǒng)（例如鐵上的鋅，黃銅上的鎳）和去鍍速度（例如1,2,5和10m / min）。 這也可以組合起來(lái)用于測(cè)試多層系統(tǒng)。
強(qiáng)大和用戶友好的PCB涂層厚度測(cè)量計(jì)是生產(chǎn)監(jiān)控和進(jìn)入檢測(cè)的理想選擇。

典型應(yīng)用：
電鍍緊固件
測(cè)試印刷電路板上殘留的純錫含量
鍍鉻浴室配件
測(cè)量常見(jiàn)的單相以及雙相涂層，如鐵上的ZN或銅上的SN / NI
金屬涂層的測(cè)量厚度品種為0.05 - 50m，不需要預(yù)先設(shè)置幾種材料; 基底組成以及幾何形狀也與測(cè)量過(guò)程無(wú)關(guān)
測(cè)量印刷電路板上純錫的剩余部分，以確?？珊感?br />多層涂層，如鐵/塑料（abs）基板上的CR / NI / CU

使用5 x 5個(gè)單獨(dú)測(cè)量的測(cè)試區(qū)域校準(zhǔn)測(cè)量系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)

作為測(cè)量鍍層厚度zui簡(jiǎn)單的方法之一，庫(kù)侖法可以用于 各種鍍層組合。 尤其對(duì)于多鍍層結(jié)構(gòu)， 當(dāng)允許破壞性測(cè) 量時(shí)，它提供了一個(gè)比 X 射線更經(jīng)濟(jì)的替代方法。 

很多常見(jiàn)的單、雙鍍層例如鐵鍍鋅或者銅鍍鎳鍍錫都可 以用 CMS2 簡(jiǎn)單快速地測(cè)量。這個(gè)方法為任何金屬鍍層 提供了的測(cè)量。在厚度范圍 0.05 - 50 μm 內(nèi)， 很多 材料不需要預(yù)設(shè)定；基材組成和幾何形狀對(duì)于測(cè)量都 是無(wú)關(guān)緊要的。 
 
zui常見(jiàn)的應(yīng)用之一就是測(cè)量線路板上剩余的純錫，以確 保可焊性。多鍍層例如 Cr/ Ni/Cu 在鐵或者塑料（ABS） 基材上，經(jīng)常被用于高品質(zhì)的浴室用品，也可以用這個(gè) 方法進(jìn)行測(cè)量

COULOSCOPE CMS基本配置：
儀器：            Couloscope CMS
測(cè)量臺(tái)：          V24、V26、V18 等
電解液：          F1 ～ F22
COULOSCOPE CMS特征：
標(biāo)準(zhǔn)：DIN EN ISO 2177 ； ASTM B504

模擬輸出： 0 ～ -18V
輸入阻抗： ＞ 2 KΩ
工作溫度： 10 ℃ ～ 40 ℃
儀器重量： 6 kg 
電源： AC 220 V ，50-60 Hz；zui大功耗 ≤ 85 VA
尺寸： 350W * 140H * 200D  mm