Fischer菲希爾DualScope FMP40測(cè)厚儀

This universal instrument can be used to measure numerous coatings both on iron/steel and on non-ferromagnetic metals and non-conducting carrier materials.

  Fischer菲希爾DualScope FMP40測(cè)厚儀： DualScope FMP40是一款同時(shí)具備電渦流感應(yīng)和電磁場(chǎng)感應(yīng)的雙制式涂鍍層測(cè)厚儀，功能強(qiáng)大且操作非常簡(jiǎn)便。使用時(shí)的一個(gè)原則是多看顯示屏上的提示，根據(jù)它的提示一步一步的去做，這往往事半功倍；其二，許多功能都是由 MENU(菜單)來(lái)開(kāi)啟，隨后皆有提示，可按部就班的進(jìn)行。

1. 開(kāi)機(jī)/關(guān)機(jī) 處于關(guān)閉狀態(tài)時(shí)按開(kāi)機(jī)件開(kāi)機(jī)；經(jīng)過(guò)一段時(shí)間（可設(shè)定）不使用，儀器將自動(dòng)關(guān)機(jī)。
2. 測(cè)量
儀器會(huì)自動(dòng)選擇測(cè)量方法：使用電渦流感應(yīng)方法時(shí)屏幕上將顯示 NFe，使用電磁場(chǎng)感應(yīng)方法
時(shí)屏幕上將顯示 Fe。測(cè)量時(shí)請(qǐng)始終保持儀器處于垂直狀態(tài)！
當(dāng)屏幕上的功能鍵位于 RES 處時(shí)，按 Result 顯示測(cè)量數(shù)據(jù)的平均值、標(biāo)準(zhǔn)誤差、測(cè)量次數(shù)、
最小值和最大值,按 Single readings 顯示各個(gè)讀數(shù)，F(xiàn)inish Block 退回測(cè)量界面。
3. 零位校正
按 CAL 位置    選擇 Normalization(校準(zhǔn)零位)，按 OK 鍵    屏幕上顯示 please measure on
base several times!    選著鐵基或鋁基并將測(cè)量頭垂直接觸到工件表面，測(cè)量 5 次后按 OK
鍵    屏幕顯示 Normalization finished successfully!后按 OK 鍵結(jié)束。
注：因我們提供的 Fe 片和 Al 片的材質(zhì)、形狀與貴司的基材不*相同,即零位并不一樣，
因此zui科學(xué)的方法是在貴司實(shí)際工件光潔底材上做零位、做校準(zhǔn)！
4. 校準(zhǔn)
按CAL位置    選擇Calibration(校準(zhǔn))，按OK鍵    屏幕上顯示please measure on base
several times!    選著鐵基或鋁基并將測(cè)量頭垂直接觸到工件表面，測(cè)量 5 次后按 OK 鍵          
屏幕顯示 Please measure several times:1.cal-rated value,將標(biāo)準(zhǔn)片放在底材上測(cè)量幾
次     按 set 將測(cè)量值調(diào)整為標(biāo)準(zhǔn)片的標(biāo)稱(chēng)值，按 OK 鍵   屏幕顯示 Please measure several
times:2.cal-rated value（此時(shí)可以第二點(diǎn)校準(zhǔn)。如需，步驟上面相同；反之按 OK 鍵跳過(guò)）   屏
幕顯示 Calibration finished successfully（校準(zhǔn)成功），按 OK 鍵結(jié)束

DUALSCOPE FMP40涂鍍層測(cè)厚儀采用了磁感應(yīng)和電渦流兩種方法。
磁感應(yīng)方法：
通過(guò)探頭的激勵(lì)電流產(chǎn)生一個(gè)低頻磁場(chǎng)區(qū)域，該磁場(chǎng)的強(qiáng)度取決于涂鍍層厚度并經(jīng)磁性基材放大。測(cè)量線(xiàn)圈捕獲這個(gè)放大信號(hào)，然后通過(guò)儲(chǔ)存在儀器內(nèi)的探頭特征曲線(xiàn)將信號(hào)轉(zhuǎn)換為涂鍍層厚度。
應(yīng)用：鋅、鉻、銅等電鍍層或涂覆或噴濺上去的非磁性鍍層或油漆、塑料等涂層在鋼和鐵上。
電渦流方法：
通過(guò)探頭的激勵(lì)電流產(chǎn)生一個(gè)高頻初級(jí)磁場(chǎng)區(qū)域，該磁場(chǎng)在基材內(nèi)產(chǎn)生感生電渦流，次級(jí)磁場(chǎng)區(qū)域削弱初級(jí)磁場(chǎng)區(qū)域，削弱影響相當(dāng)于探頭和基材之間的距離即涂鍍層的厚度，然后通過(guò)儲(chǔ)存在儀器內(nèi)的探頭特征曲線(xiàn)將削弱影響轉(zhuǎn)換為涂鍍層厚度值顯示出來(lái)。