二手ZEISS-FEI掃描電鏡掃描電子顯微鏡作為一種強(qiáng)大的微觀分析工具，能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)樣品表面形貌的高分辨率觀察，為材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、地質(zhì)學(xué)等多個(gè)領(lǐng)域的研究提供了強(qiáng)大的技術(shù)支持。以其出色的分辨率和廣泛的放大倍數(shù)范圍，能夠滿足不同研究領(lǐng)域的精細(xì)觀察需求。

二手ZEISS-FEI掃描電鏡：蔡司SEM掃描電鏡采用了先進(jìn)的電子顯微技術(shù)，能夠在納米級(jí)別對(duì)樣品進(jìn)行高分辨率的觀察和檢測(cè)。無(wú)論是科研實(shí)驗(yàn)室、醫(yī)療機(jī)構(gòu)、還是工業(yè)生產(chǎn)車間，蔡司掃描電鏡都能提供觀察能力和分析效果。

蔡司SEM掃描電鏡的主要優(yōu)點(diǎn)：

1.高分辨率：蔡司掃描電鏡配備了高穩(wěn)定的電子槍和先進(jìn)的成像系統(tǒng)，能夠提供高達(dá)數(shù)百萬(wàn)像素的分辨率，清晰地呈現(xiàn)出樣品的細(xì)節(jié)和特征。

2.多種觀察模式：蔡司SEM掃描電鏡支持多種觀察模式，如表面形貌觀察、元素分析、晶體結(jié)構(gòu)解析等，滿足不同領(lǐng)域的研究和檢測(cè)需求。

3.自動(dòng)化操作：蔡司掃描電鏡配備了先進(jìn)的自動(dòng)化操作系統(tǒng)，能夠?qū)崿F(xiàn)自動(dòng)對(duì)焦、圖像采集、數(shù)據(jù)分析等，提高工作效率和準(zhǔn)確性。

4.實(shí)時(shí)圖像處理：蔡司SEM掃描電鏡支持實(shí)時(shí)圖像處理功能，能夠?qū)Σ杉降膱D像進(jìn)行多種后期處理和分析，如對(duì)比度調(diào)整、濾波、測(cè)量等。

二手ZEISS-FEI掃描電鏡：電鏡參數(shù)

二、掃描顯微鏡（蔡司）EVO MA 15/LS 15技術(shù)參數(shù)
1、分辨率：2.0nm @ 30KV(SE with Lab6 option)   3.0nm @ 30KV(SE and W)   4.5nm @ 30KV(VP with BSD)
2、加速電壓：0.2—30KV
3、放大倍數(shù)：5—1000000x
4、視野范圍：6mm
5、X-射線參數(shù)：8.5mm WD，35度接收角
6、壓力范圍：10—400Pa (LS15:10-3000Pa)
7、工作室：365mm(φ)×275mm(h)
8、5軸優(yōu)自動(dòng)樣傯ǎ篨=125mm  Y=125mm  Z=50mm  T=0-90°R=360°
9、試樣高度：145mm，試樣直徑：250mm
10、系統(tǒng)控制：基于Windows XP 的SmartSEM

三、掃描顯微鏡（蔡司）EVO MA 15/LS 15主要特點(diǎn)
1、能在可變壓力下操作
2、X射線和EBSD分析
3、快速抽真空
4、未來(lái)的保證，可升級(jí)在高壓和水蒸氣下成像和分析
5、高亮度LaB6資源選擇
6、光線套選擇
7、可移動(dòng)大平臺(tái)

四、掃描顯微鏡（蔡司）EVO MA 15/LS 15技術(shù)優(yōu)勢(shì)
1、在z軸上可機(jī)動(dòng)化的移動(dòng)50毫米并且在X和y軸上可移動(dòng)125毫米
2、樣本高度增加到145毫米
3、改進(jìn)了低真空?qǐng)D像
4、X-射線分析技術(shù)