要為樣品提供適當的照明,激光功率至關重要。然而,環(huán)境溫度變化等因素會導致出現(xiàn)激光輸出波動。顯微鏡性能監(jiān)測器可測量激光從光纖輸出端進入到FV4000系統(tǒng)時的激光功率,并且可將測到的激光功率值與顯微鏡安裝時的相對值進行比較。如果存在差異,顯微鏡性能監(jiān)測器會自動調整激光功率,以保持一致的照明。這樣可確保您的圖像在多個成像過程中具有可比性,從而提高研究的可重復性。FV4000共聚焦顯微鏡的光路
檢測靈敏度會因光學器件的退化或光學錯位而降低。顯微鏡性能監(jiān)測器可評估每個檢測器的靈敏度以及針孔的對準情況,這對于共聚焦成像非常重要。通過監(jiān)測這些因素,監(jiān)測器有助于保持優(yōu)質的檢測靈敏度,讓您充滿信心地捕捉到樣品中的所有重要細節(jié)。![圖片](https://img44.chem17.com/9/20250108/638719443846288191487.webp)
將針孔移至負向(左)、居中(中)和移至正向(右)時獲取的圖像,顯示錯位對圖像質量的影響
獲得清晰、精準的圖像是每個顯微鏡實驗的目標。出現(xiàn)成像性能問題可能有多種原因,包括物鏡上的劃痕、污垢、使用了錯誤的浸油或校正環(huán)調節(jié)不當。了解是哪個因素導致了問題的出現(xiàn),可能會很困難。顯微鏡性能監(jiān)測器采用一種創(chuàng)新方法測量成像性能,即評估顯微鏡將光聚焦到同一個點以進行激發(fā)和發(fā)射光檢測的能力。這有助于確定導致問題的因素,可以盡早發(fā)現(xiàn)問題,避免問題影響研究結果。![圖片](https://img44.chem17.com/9/20250108/638719443847538351348.webp)
使用三維線擴散函數(3D LSF)模擬三維點擴散函數(3D PSF)評估成像性能我們聽取了顯微鏡成像中心平臺管理人員的意見,并根據他們的反饋設計了顯微鏡性能監(jiān)測器,重點關注自動化和用戶友好界面。該系統(tǒng)利用激光監(jiān)控系統(tǒng)、特制校準載玻片、新開發(fā)的圖像評估算法等,自動監(jiān)測激光功率、檢測靈敏度和成像性能,通過自動化的軟件操作界面進行檢測,用戶無需過多干預。監(jiān)測器會提供清晰易懂的顯微鏡狀態(tài)報告,提醒成像中心平臺管理人員注意任何潛在的問題,以防患于未然。
例如,監(jiān)測器會根據評估結果提醒管理員,整套設備是否需要進行維護,例如當檢測靈敏度低于某個閾值時。這有助于管理人員預測即將發(fā)生的停機情況,從而可以事先制定計劃,盡量減少停機時間。顯微鏡性能監(jiān)測器有助于更輕松、更高效地運行成像中心平臺,同時還可以幫助用戶獲得可靠、可重復的數據:
提高研究的可重復性:監(jiān)測器通過確保顯微鏡性能的一致性,幫助研究人員獲得更可靠、更可重復的結果。
減少維護:自動檢查和調整減少了手動維護任務所花費的時間。
快速學習曲線:即使顯微鏡專業(yè)知識有限的研究人員也可以輕松記錄其顯微鏡的性能。
盡早發(fā)現(xiàn)問題:可以在問題影響研究結果之前發(fā)現(xiàn)并解決問題。
縮短停機時間:當出現(xiàn)問題時,清晰的性能數據可使我們更容易與制造商溝通。
為了說明顯微鏡性能監(jiān)測器的影響,我們進行了一項實驗,對相隔一個月進行的DAPI通道熒光強度測量結果進行比較。如果不使用性能監(jiān)測器,結果會顯示出很大的差異,這可能是由于顯微鏡性能波動造成的。然而,當使用性能監(jiān)測器的校正功能進行相同的實驗時,結果卻非常一致,這表明監(jiān)測系統(tǒng)具有提高研究可重復性的能力。顯微鏡性能監(jiān)測器簡化了共聚焦顯微鏡的維護工作,為成像中心平臺的管理人員和用戶帶來了較大益處。添加了強大的性能跟蹤和校正功能后,研究人員就可以專注于他們的工作,并對成像數據的可靠性充滿信心。無論您是經驗豐富的顯微鏡專家還是初涉顯微鏡領域的新手,顯微鏡性能監(jiān)測器都有望提高您研究的質量和可重復性。隨著研究人員不斷突破科學發(fā)現(xiàn)的邊界,顯微鏡性能監(jiān)測器等工具有助于確保研究結果的準確性和可靠性。Evident致力于傾聽客戶的問題,并尋找創(chuàng)新性解決方案。
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