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廈門(mén)易仕特儀器有限公司

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[供應(yīng)]磨粉激光粒度儀供應(yīng)廠(chǎng)家

貨物所在地:福建廈門(mén)市

更新時(shí)間:2024-12-10 15:51:06

有效期:2024年12月10日 -- 2025年6月10日

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磨粉激光粒度儀供應(yīng)廠(chǎng)家
LAP-DW2000激光粒度儀廣泛應(yīng)用于水泥、陶瓷、藥品、乳液、涂料、染料、顏料、填料、化工產(chǎn)品、催化劑、鉆井泥漿、磨料、潤(rùn)滑劑、泥砂、粉塵、細(xì)胞、細(xì)菌、食品、添加劑、農(nóng)藥、石墨、感光材料、燃料、墨汁、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土、水煤漿、鋁銀漿及其他粉狀物料。

磨粉激光粒度儀供應(yīng)廠(chǎng)家

磨粉按照研磨粉顆粒的尺寸大小來(lái)區(qū)分的,一般被分為磨粒、磨粉、微粉和精粉四種。粉體樣品中不同粒徑顆粒占顆??偭康陌俜?jǐn)?shù)。有區(qū)間分布和累計(jì)分布兩種形式。區(qū)間分布又稱(chēng)為微分分布或頻率分布,它表示一系列粒徑區(qū)間中顆粒的百分含量。累計(jì)分布也叫積分分布,它表示小于或大于某粒徑顆粒的百分含量。磨粉激光粒度儀是一款用于檢測(cè)研磨粉顆粒粒徑及粒徑分布的精密儀器,該儀器具有測(cè)試速度快、測(cè)試范圍寬、重復(fù)性和真實(shí)性好、操作簡(jiǎn)便等優(yōu)點(diǎn)。

磨粉激光粒度儀供應(yīng)廠(chǎng)家

磨粉激光粒度儀適用范圍:

     LAP-DW2000激光粒度儀廣泛應(yīng)用于水泥、陶瓷、藥品、乳液、涂料、染料、顏料、填料、化工產(chǎn)品、催化劑、鉆井泥漿、磨料、潤(rùn)滑劑、泥砂、粉塵、細(xì)胞、細(xì)菌、食品、添加劑、農(nóng)藥、石墨、感光材料、燃料、墨汁、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土、水煤漿、鋁銀漿及其他粉狀物料。

LAP-DW2000干濕一體激光粒徑檢測(cè)儀主要性能特點(diǎn):

*的光路設(shè)計(jì):LAP-DW2000激光粒度儀采用會(huì)聚光傅立葉變換測(cè)試技術(shù),保證在zui短的焦距獲得大量程,有效提高儀器的分辨能力;*的高密度探測(cè)單元,讓LAP-DW2000擁有了*的小顆粒測(cè)試能力,高密度探測(cè)單元的使用讓LAP-DW2000具有*的全量程無(wú)縫測(cè)試能力。

干、濕一鍵切換:干濕切換將由儀器自動(dòng)完成,全部過(guò)程10S內(nèi)完成。

主探測(cè)器Z向自動(dòng)移動(dòng):干濕切換后因光學(xué)玻璃的介入會(huì)導(dǎo)致會(huì)聚光焦距變化,LAP-DW2000激光粒度儀會(huì)根據(jù)干、濕法的不同自動(dòng)調(diào)整主探測(cè)器,使主探測(cè)器始終在焦平面上(實(shí)現(xiàn)光路三維自動(dòng)校對(duì))。

防塵、防震設(shè)計(jì):儀器整體進(jìn)行了密封設(shè)計(jì),大幅提高了內(nèi)部元器件使用壽命。*的懸浮式結(jié)構(gòu)能有效避免外界震動(dòng)對(duì)儀器的影響,使測(cè)試結(jié)果更穩(wěn)定可靠。

強(qiáng)防腐設(shè)計(jì)(選配):根據(jù)客戶(hù)實(shí)際需求可以配備耐酸、耐堿、耐油(含一切溶劑油)、耐有機(jī)溶劑。

進(jìn)口氦-氖激光器:LAP-DW2000激光粒度儀采用了高穩(wěn)定、長(zhǎng)壽命的進(jìn)口氦-氖激光器,優(yōu)良的單色性及穩(wěn)定性讓LAP-DW2000擁有了*的測(cè)試重復(fù)性(標(biāo)配為國(guó)產(chǎn))。

光路自動(dòng)校對(duì):自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng),儀器可自動(dòng)校對(duì)光路。

*微量循環(huán)系統(tǒng):整個(gè)分散循環(huán)系統(tǒng)進(jìn)行了優(yōu)化設(shè)計(jì),分散介質(zhì)大于150毫升即可循環(huán)測(cè)試,真正達(dá)到了微量循環(huán)測(cè)試;優(yōu)化的設(shè)計(jì)保證排水后無(wú)廢液殘留,保證了下一次測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。

超寬量程:LAP-DW2000激光粒度儀量程達(dá)到了0.1μm2000μm

免排氣泡設(shè)計(jì):全新的設(shè)計(jì)使整個(gè)測(cè)試過(guò)程不會(huì)有氣泡進(jìn)入測(cè)試樣品窗,避免了氣泡影響。

樣品無(wú)殘留設(shè)計(jì):儀器管道及排水結(jié)構(gòu)進(jìn)行了優(yōu)化設(shè)計(jì),儀器管道、循環(huán)泵內(nèi)無(wú)積液殘留,避免對(duì)下一次測(cè)試數(shù)據(jù)的影響;干法測(cè)試同樣進(jìn)行了無(wú)殘留設(shè)計(jì)。

干法計(jì)算機(jī)遠(yuǎn)程控制喂料:LAP-DW2000干法測(cè)試時(shí)測(cè)試人員可通過(guò)電腦遠(yuǎn)端控制喂料速度,大大減少了測(cè)試人員的勞動(dòng)強(qiáng)度。

樣品窗快換裝置:全新設(shè)計(jì)的樣品窗快換裝置,使樣品窗更換更方便快捷。

干濕一體激光粒徑檢測(cè)儀*的濕法循環(huán)分散系統(tǒng),保證顆粒保證測(cè)試過(guò)程中無(wú)顆粒沉積現(xiàn)象,測(cè)試完畢后無(wú)廢液積存設(shè)計(jì),保證了下一次測(cè)試精度,使測(cè)試結(jié)果更真實(shí)可靠;干法分散采用力了直線(xiàn)噴射分散設(shè)計(jì),樣品經(jīng)過(guò)高壓氣體分散后垂直向后方飛行,避免了待測(cè)小顆粒的二次團(tuán)簇,同時(shí)采取了管道無(wú)殘留設(shè)計(jì),保證了測(cè)試不同樣品的準(zhǔn)確性。*的光路自動(dòng)校對(duì)系統(tǒng)、干濕一鍵切換系統(tǒng)、干法電腦遠(yuǎn)端控制喂料系統(tǒng)等精心設(shè)計(jì)彰顯出LAP-DW2000*優(yōu)勢(shì)。

 

 

 

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