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優(yōu)尼康科技有限公司>>薄膜輪廓與粗糙度測(cè)量>>Zeta白光共聚焦>>Zeta-20白光共聚焦

白光共聚焦

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  • 型號(hào) Zeta-20
  • 品牌 其他品牌
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 上海

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更新時(shí)間:2023-07-24 11:35:04瀏覽次數(shù):1611

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

產(chǎn)地類別 進(jìn)口 產(chǎn)品種類 非接觸式輪廓儀/粗糙度儀
價(jià)格區(qū)間 面議 應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,生物產(chǎn)業(yè),電子,汽車
Zeta-20白光共聚焦是一款緊湊牢固的全集成光學(xué)輪廓顯微鏡,可以提供3D量測(cè)和成像功能。該系統(tǒng)采用ZDot™技術(shù),可同時(shí)采集高分辨率3D數(shù)據(jù)和True Color(真彩)無(wú)限遠(yuǎn)焦點(diǎn)圖像。 Zeta-20具備Multi-Mode(多模式)光學(xué)系統(tǒng)、簡(jiǎn)單易用的軟件、以及低擁有成本,適用于研發(fā)及生產(chǎn)環(huán)境。

詳細(xì)介紹

Zeta-20 Optical Profiler



 Zeta-20是一款緊湊牢固的全集成光學(xué)輪廓顯微鏡,可以提供3D量測(cè)和成像功能。該系統(tǒng)采用ZDot技術(shù),可同時(shí)采集高分辨率3D數(shù)據(jù)和True Color(真彩)無(wú)限遠(yuǎn)焦點(diǎn)圖像。 Zeta-20具備Multi-Mode(多模式)光學(xué)系統(tǒng)、簡(jiǎn)單易用的軟件、以及低擁有成本,適用于研發(fā)及生產(chǎn)環(huán)境。

產(chǎn)品描述

 Zeta-20臺(tái)式光學(xué)輪廓儀是非接觸式3D表面形貌測(cè)量系統(tǒng)。 該系統(tǒng)采用ZDot技術(shù)和Multi-Mode (多模式)光學(xué)系統(tǒng),可以對(duì)各種不同的樣品進(jìn)行測(cè)量:透明和不透明、由低至高的反射率、由光滑至粗糙的紋理,以及納米至毫米級(jí)別的臺(tái)階高度。

  Zeta-20的配置靈活并易于使用,并集合了六種不同的光學(xué)量測(cè)技術(shù)。ZDot測(cè)量模式可同時(shí)采集高分辨率3D數(shù)據(jù)和True Color(真彩)無(wú)限遠(yuǎn)焦點(diǎn)圖像。其他3D測(cè)量技術(shù)包括白光干涉測(cè)量、Nomarski干涉對(duì)比顯微鏡和剪切干涉測(cè)量。 ZDot或集成寬帶反射儀都可以對(duì)薄膜厚度進(jìn)行測(cè)量。 Zeta-20也是一種顯微鏡,可用于樣品復(fù)檢或自動(dòng)缺陷檢測(cè)。 Zeta-20通過(guò)提供的臺(tái)階高度、粗糙度和薄膜厚度的測(cè)量以及缺陷檢測(cè)功能,適用于研發(fā)及生產(chǎn)環(huán)境。


主要功能

·       采用ZDot和Multi-Mode(多模式)光學(xué)器件的簡(jiǎn)單易用的光學(xué)輪廓儀,具有廣泛的應(yīng)用

·       可用于樣品復(fù)檢或缺陷檢測(cè)的高質(zhì)量顯微鏡

·       ZDot:同時(shí)采集高分辨率3D數(shù)據(jù)和True Color(真彩)無(wú)限遠(yuǎn)焦點(diǎn)圖像

·       ZXI:白光干涉測(cè)量技術(shù),適用于z向分辨率高的廣域測(cè)量

·       ZIC:干涉對(duì)比度,適用于亞納米級(jí)別粗糙度的表面并提供其3D定量數(shù)據(jù)

·       ZSI:剪切干涉測(cè)量技術(shù)提供z向高分辨率圖像

·       ZFT:使用集成寬帶反射計(jì)測(cè)量膜厚度和反射率

·       AOI:自動(dòng)光學(xué)檢測(cè),并對(duì)樣品上的缺陷進(jìn)行量化

·       生產(chǎn)能力:通過(guò)測(cè)序和圖案識(shí)別實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)測(cè)量


主要應(yīng)用

·       臺(tái)階高度:納米到毫米級(jí)別的3D臺(tái)階高度

·       紋理:平滑到非常粗糙表面的粗糙度和波紋度

·       外形:3D翹曲和形狀

·       應(yīng)力:2D薄膜應(yīng)力

·       薄膜厚度:30nm到100μm透明薄膜厚度

·       缺陷檢測(cè):捕獲大于1μm的缺陷

·       缺陷復(fù)檢:采用KLARF文件作為導(dǎo)航以測(cè)量缺陷的3D表面形貌或切割道缺陷位置

工業(yè)應(yīng)用

·       太陽(yáng)能:光伏太陽(yáng)能電池

·       半導(dǎo)體和化合物半導(dǎo)體

·       半導(dǎo)體 WLCSP(晶圓級(jí)芯片級(jí)封裝)

·       半導(dǎo)體FOWLP(扇出晶圓級(jí)封裝)

·       PCB和柔性PCB

·       MEMS(微機(jī)電系統(tǒng))

·       醫(yī)療設(shè)備和微流體設(shè)備

·       數(shù)據(jù)存儲(chǔ)

·       大學(xué),研究實(shí)驗(yàn)室和研究所

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