10當前位置：> 供求商機> 德國 Panco 公司-電導率-塞貝克系數掃描探針顯微鏡
電導率-塞貝克系數掃描探針顯微鏡
可以測量樣品的電導率和塞貝克系數的空間分布狀況，是研究熱電材料的利器。
當前位置：> 供求商機> 德國 Panco 公司-電導率-塞貝克系數掃描探針顯微鏡
當前位置：> 供求商機> 德國 Panco 公司-電導率-塞貝克系數掃描探針顯微鏡
電導率-塞貝克系數掃描探針顯微鏡
系統(tǒng)組成部分
1、三矢量軸定位平臺及其控制器
2、熱量克測量的測溫探針
3、接觸探測系統(tǒng)
4、模擬多路器
5、數字電壓表
6、鎖相放大器
7、攝像探頭
8、帶有控制軟件和 GPIB 總線的計算機
9、樣品架
電導率-塞貝克系數掃描探針顯微鏡
掃描電導率－塞貝克系數顯微鏡可以測量樣品的電導率和塞貝克系數的空間分布狀況，是研究熱電材料的利器。
應用領域 1、熱電材料，超導材料，燃料電池，導電陶瓷以及半導體材料的均勻度測量 2、測量功能梯度材料的梯度 3、觀察功能梯度材料的梯度效應 4、監(jiān)測 NTC/PTC 材料的電阻漂移 5、導電固體中的傳導損耗 6、陰極材料的電導率損耗 7、GMR 材料峰值溫度的降低，電阻率的變化 8、樣品的質量監(jiān)控 |
電導率-塞貝克系數掃描探針顯微鏡
主要技術參數 位置單向定位精度： 1 μm位置雙向定位精度： 3 μm zui大掃描區(qū)域： 150 mm × 50 mm 局部測量精度： 10 μm (與該區(qū)域的熱傳導有關) 信號測量精度： 100 nV 測量結果重復性： 優(yōu)于3% 電導率-塞貝克系數掃描探針顯微鏡技術由德國 Panco 公司和德國宇航中心公共研制開發(fā)，點擊資料下載按鈕下載說明手冊。 | |
部分用戶名單： Simens Company |
請輸入賬號
請輸入密碼
以上信息由企業(yè)自行提供，信息內容的真實性、準確性和合法性由相關企業(yè)負責，化工儀器網對此不承擔任何保證責任。
溫馨提示：為規(guī)避購買風險，建議您在購買產品前務必確認供應商資質及產品質量。