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Bruker原子力顯微鏡-- Dimension Icon

Bruker公司的AFM具有多項(xiàng)zhuan  li技術(shù)，以其的性能廣泛應(yīng)用于科研和工業(yè)界各領(lǐng)域

Dimension Icon 系列作為布魯克公司(Bruker AXS)原子力顯微鏡的旗艦產(chǎn)品，凝聚了多項(xiàng)行業(yè)*的zhuan  li技術(shù)，是二十多年技術(shù)創(chuàng)新、客戶反饋和行業(yè)應(yīng)用的結(jié)晶。

應(yīng)用：

應(yīng)用于科研和工業(yè)界各領(lǐng)域，涵蓋了聚合物材料表征，集成光路測(cè)量，材料力學(xué)性能表征，MEMS制造，金屬/合金/金屬蒸鍍的性質(zhì)研究，液晶材料性能表征，分子器件，生物傳感器，分子自組裝結(jié)構(gòu)，光盤(pán)存儲(chǔ)，薄膜性能表征等領(lǐng)域的監(jiān)測(cè)等各類(lèi)科研和生產(chǎn)工作。

原子力顯微鏡的工作模式是以針尖與樣品之間的作用力的形式來(lái)分類(lèi)的。主要有以下3種操作模式：接觸模式（contact mode) ，非接觸模式（ non - contact mode) 和敲擊模式( tapping mode）。

特征：

1. 低漂移和低噪音水平

2. 配置有專(zhuān)有ScanAsys原子成像優(yōu)化技術(shù)，可以簡(jiǎn)易快速穩(wěn)定成像

3. 測(cè)試樣品尺寸可達(dá)：直徑210mm，厚度15mm

4. 溫度補(bǔ)償位置傳感器使Z軸和X-Y軸的噪音分別保持在亞-埃級(jí)和埃級(jí)水平，并呈現(xiàn)出*的高分辨率。

5. 全新的XYZ閉環(huán)掃描頭在不損失圖像質(zhì)量的前提下大大提高了掃描速度。

6. 探針和樣品臺(tái)的開(kāi)放式設(shè)計(jì)使Icon 可勝任各種標(biāo)準(zhǔn)和非標(biāo)準(zhǔn)的實(shí)驗(yàn)。

7. 先進(jìn)的布魯克AFM的模式和技術(shù)，如高次諧波共振模式，和的不失真高溫成像技術(shù)--采用對(duì)針尖和樣品同時(shí)加熱的方法，zui da減少針尖和樣品之間的溫差，避免造成成像失真。

部分選擇項(xiàng)：

參數(shù)：

X-Y掃描范圍：        

Z掃描范圍：        

X-Y噪聲（閉環(huán)）：      

Z噪聲（閉環(huán)）：