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OLTESPA-BRUKER布魯克 原子力探針 AFM探針-輕敲模式
  • OLTESPA-BRUKER布魯克 原子力探針 AFM探針-輕敲模式

貨物所在地:北京北京市

地: 美國

更新時(shí)間:2024-09-26 14:08:51

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OLTESPA-R3原子力顯微鏡探針為布魯克貼標(biāo)產(chǎn)品,
懸臂共振頻率:70(50~90) kHz(空氣中),彈性系數(shù):2 N/m。
針尖曲率半徑:7nm(典型值)
AL涂層。

布魯克Bruker 原子力顯微鏡探針 AFM探針 輕敲模式  OLTESPA-R3

 

 產(chǎn)品特點(diǎn)
更易定位,更適合如按樣品。

 OLTESPA-R3原子力顯微鏡探針為布魯克貼標(biāo)產(chǎn)品,

懸臂共振頻率:70(50~90) kHz(空氣中),彈性系數(shù):2 N/m。

針尖曲率半徑:7nm(典型值)

AL涂層。

產(chǎn)品資料 

 OLTESPA-R3 原子力顯微鏡探針/AFM探針主要特點(diǎn):
1.較小彈簧常數(shù)更適合測量軟樣品

2 N / m的彈簧常數(shù)是AC模式的硅懸臂中*小的,適用于觀察軟樣品的表面形貌和粘彈性。

2.用低電阻率硅測量表面電位

懸臂基材采用N型摻雜硅,表面電阻為0.01-0.02Ω·cm(是其他基材表面電阻的1/200)。這可以用于測量表面電位和其他應(yīng)用。

3.理想情況下指向終止探針

四面體探針的頂點(diǎn)理想地是點(diǎn)終止的。

從正面看,四面體探針顯示出良好的對稱性。考慮幾何特征,選擇快速掃描(X)方向。檢查掃描線輪廓和頂點(diǎn)的放大視圖。

4.備受好評的'TipView'結(jié)構(gòu)

由于'TipView'結(jié)構(gòu),探頭可以輕松定位在您感興趣的位置。

探頭位于懸臂的末端,以便在光學(xué)觀察期間探頭頂點(diǎn)不會(huì)被遮擋。

5.反射側(cè)鋁涂層

在懸臂上涂覆厚度為100nm的薄鋁膜,用于反射來自AFM設(shè)備中的偏轉(zhuǎn)傳感器的光??梢灶A(yù)期用于高S / N感測的高反射。

 

 

參數(shù)規(guī)格

 
 

產(chǎn)品優(yōu)勢

關(guān)于布魯克:

布魯克公司以的生產(chǎn)工藝,專業(yè)的AFM領(lǐng)域背景,得天獨(dú)厚的生產(chǎn)裝備,賦予探針制造眾多的優(yōu)勢,確保在*廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域中提供*完整的AFM解決方案。

布魯克AFM探針制造中心*優(yōu)勢:

*Class100級別的無塵室

*的設(shè)計(jì)、制造工序及制造工具

*探針設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)與AFM設(shè)備研發(fā)團(tuán)隊(duì)通力合作,配合緊密

*訓(xùn)練有素的生產(chǎn)團(tuán)隊(duì),制造出各種型號(hào)的探針

*全面的質(zhì)量管理體系,確保探針性能行業(yè)

 

在實(shí)驗(yàn)中,用戶所得到的數(shù)據(jù)取決于探針的質(zhì)量及探針的重復(fù)性。布魯克的探針具有嚴(yán)格的納米加工控制,全面的質(zhì)量測試,和AFM領(lǐng)域的專業(yè)背景。所以用戶盡可放心,我們的探針不僅為您當(dāng)前的應(yīng)用提供所需的結(jié)果,同時(shí)也能為將來的研究提供參考數(shù)據(jù)。

 

原子力顯微鏡探針/AFM探針:  

探針的工作模式:主要分為:掃描(接觸)模式和輕敲模式

探針的結(jié)構(gòu):懸臂梁+針尖

探針針尖曲率半徑Tip Radius:一般為10nm到幾十nm。

制作工藝:半導(dǎo)體工藝制作

 

指標(biāo):

探針的指標(biāo)主要分三個(gè)部分,分別對應(yīng)了基片,微懸臂梁,和針尖三個(gè)部分。

1. 基片,就是基片的長,寬,高,各種探針的基片尺寸是基本一致的。

2. 懸臂梁,分為矩形梁和三角形懸臂梁,他們的長寬厚的幾何尺寸決定了懸臂梁的彈性系數(shù)和共振頻率。而彈性常數(shù)K是探針的很重要的一個(gè)參數(shù),一般來說,接觸模式的探針的彈性常數(shù)小于1N/m。輕敲模式的探針的懸臂梁彈性系數(shù)從幾個(gè)N/m到幾十個(gè)N/m。常用的RTESP的彈性常數(shù)是40N/m。

3. 針尖,針尖的的幾何形狀是一個(gè)四面體。指標(biāo)主要有,曲率半徑(Tip Radius),探針高度(Tip Height),對應(yīng)于四面體的指標(biāo),前角(Front Angel),后角(Back Angel),側(cè)角(Side Angel),還有一個(gè)是Tip Set Back,對應(yīng)的是針尖離懸臂梁*末端的水平距離。

材質(zhì):

1. 輕敲探針:一般是單晶硅,型號(hào)如RTESP;

2. 接觸模式探針:材質(zhì)是SiN,而新型號(hào)的SNL接觸探針,懸臂梁是SiN,而針尖則Si(曲率半徑2nm左右),這種探針可以提供接觸模式下的分辨率圖;

3. 功能探針:如磁力探針(MESP),導(dǎo)電探針,則是在普通的硅探針的基礎(chǔ)上再鍍上相應(yīng)的材料。MESP的鍍層是Co/Cr,SCM-PIT的鍍層是Pt。

常用探針型號(hào)介紹:

  常用探針型號(hào)介紹

1. 輕敲模式,RTESPA-300,TESP,F(xiàn)ESP

2. 接觸模式,SNL,NP,

3. 智能掃描模式:Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+

4. 磁力顯微鏡,MESP-V2,MESP-RC-V2

5. 靜電力顯微鏡,導(dǎo)電AFM,等電學(xué)測量模式,DDESP,SCM-PIT,SCM-PIC等。

6.  其他特殊功能探針。如金剛石探針,大長徑比探針。

原子力顯微鏡探針/AFM探針基本都是由MEMS技術(shù)加工 Si 或者 Si3N4來制備. 探針針尖半徑一般為10到幾十 nm。微懸臂通常由一個(gè)一般100~500μm長和大約500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。典型的硅微懸臂大約100μm長、10μm寬、數(shù)微米厚。

  利用探針與樣品之間各種不同的相互作用的力而開發(fā)了各種不同應(yīng)用領(lǐng)域的顯微鏡,如AFM(范德法力),靜電力顯微鏡EFM(靜電力)磁力顯微鏡MFM(靜磁力)側(cè)向力顯微鏡LFM(探針側(cè)向偏轉(zhuǎn)力)等, 因此有對應(yīng)不同種類顯微鏡的相應(yīng)探針。

  原子力顯微鏡的探針主要有以下幾種:

  (1)、 非接觸/輕敲模式針尖以及接觸模式探針:*常用的產(chǎn)品,分辨率高,使用壽命一般。使用過程中探針不斷磨損,分辨率很容易下降。主要應(yīng)用與表面形貌觀察。

 ?。?/font>2)、 導(dǎo)電探針:通過對普通探針鍍10-50納米厚的Pt(以及別的提高鍍層結(jié)合力的金屬,如Cr,Ti,Pt和Ir等)得到。導(dǎo)電探針應(yīng)用于EFM,KFM,SCM等。導(dǎo)電探針分辨率比tapping和contact模式的探針差,使用時(shí)導(dǎo)電鍍層容易脫落,導(dǎo)電性難以長期保持。導(dǎo)電針尖的新產(chǎn)品有碳納米管針尖,金剛石鍍層針尖,全金剛石針尖,全金屬絲針尖,這些新技術(shù)克服了普通導(dǎo)電針尖的短壽命和分辨率不高的缺點(diǎn)。

 ?。?/font>3)、磁性探針:應(yīng)用于MFM,通過在普通tapping和contact模式的探針上鍍Co、Fe等鐵磁性層制備,分辨率比普通探針差,使用時(shí)導(dǎo)電鍍層容易脫落。

 ?。?/font>4)、大長徑比探針:大長徑比針尖是專為測量深的溝槽以及近似鉛垂的側(cè)面而設(shè)計(jì)生產(chǎn)的。特點(diǎn):不太常用的產(chǎn)品,分辨率很高,使用壽命一般。技術(shù)參數(shù):針尖高度> 9μm;長徑比5:1;針尖半徑< 10 nm。

  (5)、類金剛石碳AFM探針/全金剛石探針:一種是在硅探針的針尖部分上加一層類金剛石碳膜,另外一種是全金剛石材料制備(價(jià)格很高)。這兩種金剛石碳探針具有很大的耐久性,減少了針尖的磨損從而增加了使用壽命。

AFM探針 原子力顯微鏡探針 OLTESPA-V3 

 

 

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