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IMC210-等離子:法國IBS IMC210中束流離子注入機
  • IMC210-等離子:法國IBS IMC210中束流離子注入機

貨物所在地:北京北京市

地: 法國

更新時間:2024-10-15 21:00:07

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離子注入機由離子源、質(zhì)量分析器、加速器、四級透鏡、掃描系統(tǒng)和靶室組成,可以根據(jù)實際需要省去次要部位。離子源是離子注入機的主要部位,作用是把需要注入的元素氣態(tài)粒子電離成離子,決定要注入離子的種類和束流強度。離子源直流放電或高頻放電產(chǎn)生的電子作為轟擊粒子,當外來電子的能量高于原子的電離電位時,通過碰撞使元素發(fā)生電離。碰撞后除了原始電子外,還出現(xiàn)正電子和二次電子。正離子進入質(zhì)量分析器選出需要的離子,再經(jīng)

 法國IBS IMC210中束流離子注入機

 

離子注入機由離子源、質(zhì)量分析器、加速器、四級透鏡、掃描系統(tǒng)和靶室組成,可以根據(jù)實際需要省去次要部位。離子源是離子注入機的主要部位,作用是把需要注入的元素氣態(tài)粒子電離成離子,決定要注入離子的種類和束流強度。離子源直流放電或高頻放電產(chǎn)生的電子作為轟擊粒子,當外來電子的能量高于原子的電離電位時,通過碰撞使元素發(fā)生電離。碰撞后除了原始電子外,還出現(xiàn)正電子和二次電子。正離子進入質(zhì)量分析器選出需要的離子,再經(jīng)過加速器獲得較高能量,由四級透鏡聚焦后進入靶室,進行離子注入。

 

 

離子注入機是集成電路制造前工序中的關鍵設備,離子注入是對半導體表面附近區(qū)域進行摻雜的技術(shù),其目的是改變半導體的載流子濃度和導電類型。離子注入與常規(guī)熱摻雜工藝相比可對注入劑量、注入角度、注入深度、橫向擴散等方面進行   的控制,克服了常規(guī)工藝的限制,提高了電路的集成度、開啟速度、成品率和壽命,降低了成本和功耗。離子注入機廣泛用于摻雜工藝,可以滿足淺結(jié)、低溫和   控制等要求,已成為集成電路制造工藝中*的關鍵裝備。

 

特點:

l   控制離子束流

l   控制加速電壓

l占地小操作簡單運行成本低

l特別適合于研發(fā)應用

l適用于4”~6”晶片,小可用于1*1cm2樣品(室溫)

l4”熱注入模式,   溫度可達600

l2個帶有蒸發(fā)器的Freeman離子源,可使溫度達750

l1Bernas離子源

l非凡的鋁注入能力

l一個主氣箱,配有4個活性氣體管路;一個副氣箱,配有4個中性氣體管路

l高價樣品注入能力

l注入角0~15

lIBS*的矢量掃描系統(tǒng)

l手動裝載/卸載用于標準注入和熱注入,自動25cassette 裝載用于標準腔室

l遠程操作控制接觸屏(5米鏈接線纜)

l輻射低于0.6usv/hour

 

 

工藝性能

 

l2~210keV

l束流:4”晶片100keV時,大于900uA (As, P), 大于450uA (B)

l劑量范圍:1*1011*1018~at/cm2

l片內(nèi)非均勻性:1s<=1%(帶有1000埃氧化層的4寸硅,注B100kev,1*1014at/cm2

l片間均勻性:1s  1 %

 

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