簡介

Jordan Valley公司   設計的Delta-X是多功能的X射線衍射設備，可靈活應用于材料科學研究、工藝開發(fā)、與生產(chǎn)質(zhì)量控制。Delta-X衍射儀的光源臺和探測臺的光學元件可以全自動化調(diào)控，并采用水平式樣品臺。Delta-X衍射儀可以在常規(guī)衍射模式、高分辨率衍射模式、X射線反射模式之間靈活切換。光學配置的切換*在菜單式程序控制下由計算機完成，無需手動操作。自動化切換和準直不需要專門人員和操作設備，并確保每次切換都能達到   佳的光學準直狀態(tài)。

常規(guī)的樣品測量可以通過Delta-X衍射儀，實現(xiàn)部分、乃至*的自動化運行，自動化測量程序可以依客戶需求進行專門定制。也可采用*的手動模式操作Delta-X衍射儀，以便發(fā)展新測量方法，研究新材料體系。

數(shù)據(jù)分析或擬合可以作為測量程序的一部分，可實現(xiàn)*自動化，也可依據(jù)需要單獨進行數(shù)據(jù)分析。 依半導體生產(chǎn)線的需求，將RADS和REFS擬合軟件以自動化模式運行，允許在沒有用戶干擾的情況下自動完成常規(guī)性的數(shù)據(jù)分析，并直接完成數(shù)據(jù)擬合和結(jié)果輸出。RADS和REFS也可以單獨安裝，以便進行更詳細的數(shù)據(jù)分析。

Delta-X衍射儀能滿足科學研究所和技術(shù)開發(fā)中心 不同材料體系的*測試需求。

Delta-X 衍射儀的主要特點和優(yōu)勢

§ 自動化進行樣品準直、測試、和數(shù)據(jù)分析

§ 客戶可以自行設定測量的自動化程度

§ 300mm的歐拉環(huán)支架(Eulerian Cradle)設計，高精度的樣品定位和掃描

§ 300mm的晶片水平式放置，且可以完整mapping

§ 100º的Chi軸傾轉(zhuǎn)范圍、無限制范圍的Phi軸旋轉(zhuǎn)空間，可實現(xiàn)極圖和殘余應力測試

§ 智能化的光學配置切換和準直。依測量需要，自動選擇光學配置并實施光學準直

§ 工業(yè)界先的設備控制軟件和數(shù)據(jù)分析軟件

§ 高分辨率測角儀，以保證精密且準確的測量

§ 高強度的光源臺設計和光學元件組合，以實現(xiàn)快速測量

§ 多方面廣泛的測試技術(shù)和測量參數(shù)

§ 由擁有超過30年的高分辨率X射線衍射經(jīng)驗的世jie級專家設計、制造，具有客戶經(jīng)驗。

Delta-X衍射儀的特點和優(yōu)勢

自動化控制的光學系統(tǒng):

Delta-X衍射儀的入射束包括多種標準的光學配置模式，以便使光學配置具有充分的靈活性，且易于操作?？梢砸罁?jù)測量樣品的材料類型，選擇參考晶體。

§ 標準模式：用于所有系統(tǒng)，平行束多層膜高反鏡

§ 其他四種光學系統(tǒng)可以選擇和安裝：

§ Bragg-Brentano鏡 (Johannson光學元件)

§ Bragg-Brentano鏡 (Johannson光學元件)和一個參考晶體(二次反射)

§ 兩個獨立的參考晶體(二次反射)：參考晶體的材料類型和分辨率有多種設計供選擇，以便提供與測量   匹配的分辨率。

§ 兩個參考晶體，以Bartels模式安裝

§ 參考晶體和高反鏡均可自動化切換

§ 不需要將參考晶體和高反鏡手動移出衍射儀，保證光學元件不被損壞、不偏離準直狀態(tài)。

§ 衍射儀的初始準直易于操作，安全可靠，無需在設備內(nèi)開啟X射線操作。

樣品臺

可放置直徑≤300mm晶片或多個小尺寸晶片、樣品

Delta-X衍射儀的歐拉(Eulerian )環(huán)支架設計允許放置單個或多個晶片或樣品，并提供多個轉(zhuǎn)動軸的大范圍、高再現(xiàn)性的   移動控制。

§ 水平式樣品放置

§ 可實現(xiàn)X和Y軸方向上，300mm內(nèi)的完整mapping測量，無邊緣測量失真的現(xiàn)象

§ 10mm的Z軸高度范圍，即使對厚樣品也可以調(diào)整晶片高度，獲得   佳測量位置

§ 在樣品盤的不同位置，設計了均勻、無扭曲的真空輕度吸附，既適合大尺寸晶片放置，又適合獨立、小尺寸晶片的多片式放置

§ 100°的Chi軸傾轉(zhuǎn)范圍，可實現(xiàn)完整的極圖和殘余應力測量

§ Phi軸的旋轉(zhuǎn)范圍無限制，可實現(xiàn)完整的極圖和面內(nèi)衍射測量

“邊緣至邊緣”全晶片測量 (無邊緣測量失真現(xiàn)象)

Delta-X衍射儀支持全晶片測量，無邊緣測量失真的現(xiàn)象。

特殊環(huán)境樣品臺

Delta-X衍射儀可選配高溫臺，并用于各種測試技術(shù)。

§ 樣品尺寸≤25mm

§ XRR/XRD/HRXRD等技術(shù)均可實現(xiàn)

§    高溫度可達1100℃

§ 可實現(xiàn)真空、空氣、特殊氣體等不同的測量環(huán)境

§ 可實現(xiàn)溫度的計算機自動控制

探測臺

閃爍式高性能點探測器

探測系統(tǒng)具有顯著提高響應特性等多方面的特點：

§ EDRc (動態(tài)響應范圍增強型)探測器的動態(tài)響應范圍>2x107cps。配置全自動化衰減器后，動態(tài)響應范圍可提高至5x108cps。

§ 選配三軸分析晶體和Soller狹縫，可自動化準直，以保障各項測量所需的分辨率。

§ 馬達驅(qū)動的自動化探測狹縫。無需手動調(diào)整，即可控制探測臺的接收精度。

§ 超快速掃描引擎和軟件。大范圍掃描可以在5秒內(nèi)完成。

性能   的線探測器(選配件)

提供一維(1D)線探測器可供選擇，能實現(xiàn)束線信號的同步平行采集，能顯著提高XRD的測量速度。特別適用于小束斑條件下的XRD測量、和快速HRXRD倒易空間map測量。

§ 自動化束線準直