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TESCAN 聚焦離子束可變真空掃描電鏡     -VELA 3 XMU

• 公司介紹

TESCAN總部坐落在捷克共和國布爾諾市，作為范圍內的科學儀器制造商，TESCAN專注于于研究、開發(fā)、制造掃描電子顯微鏡及其相關附件和特殊產品，為建立在掃描電子顯微鏡以及針對不同應用的相關系統(tǒng)解決方案領域內的品牌做出不懈努力。

通過參與好的端研究項目，通過和其他電子顯微鏡以及顯微分析的制造商的合作，TESCAN致力于持續(xù)不斷的改進產品以使其保持在微納技術創(chuàng)新解決方案領域內的競爭力。本著制造品質和高可靠性、高穩(wěn)定性產品的原則，借助于良好的資源信息處理系統(tǒng)和優(yōu)化過程管理，我們用頂好的水平的技術裝備和好高標準的質量管理系統(tǒng)確?？蛻魧Ξa品質量、價格、交貨等多方面的滿意。

我們有遍布的銷售和服務網絡，銷售團隊和訓練有素的工程師保證客戶在好快的時間內得到產品信息和服務支持。

shi jie*個*集成式Xe等離子源聚焦離子束掃描電子顯微鏡----FERA3，提供了超高離子束束流（zui高束流為2µA），其濺射速度比Ga離子源高50多倍。對于目前浪費時間或不可能進行的需要刻蝕的材料，FERA3型儀器是一個不錯的選擇。

新一代的聚焦離子束掃描電子顯微鏡為用戶提供了zui新的技術優(yōu)勢，例如：改進的高性能電子設備使圖像采集得速度更快，帶有靜態(tài)和動態(tài)圖像扭曲補償技術的超高速掃描系統(tǒng)，內置的編程軟件等。

FERA3的設計適應各種各樣的SEM應用與當今研究和產業(yè)的需求，其高分辨率、高電流和強大的軟件使TESCAN FIB-SEM成為優(yōu)秀的分析工具。

現代電子光路

• *的三透鏡大視野觀察（Wide Field Optics™）設計提供了許多工作與顯示模式，體現了TESCAN*可優(yōu)化電子束光闌的中間鏡設計
• 結合了完善的電子光學設計軟件的實時電子束追蹤（In-Flight Beam Tracing™），可模擬和優(yōu)化電子束
• 全自動的電子光路設置與合軸
• 成像速度快
• 使用3維電子束技術可獲取實時立體圖像
• 三維導航

高性能離子光路

• 高性能的等離子i-FIB設備使切片和材料的刻蝕既快又精確

維修簡單

現在保持電鏡處在優(yōu)秀的狀態(tài)很簡單，只需要很短的停機時間。每個細節(jié)設計得很仔細，使得儀器的效率zui大化，操作zui簡化。

自動操作

電鏡除了可以自動化設置外，還可進行聚焦、調節(jié)對比度/亮度等自動操作。除此之外，電鏡還有樣品臺自動導航與自動分析 程序，能明顯減少操作員的操作時間。通過內置腳本語言（Python）可進入軟件的大多數功能，包括顯微鏡控制、樣品臺控制、圖像采集、處理與分析等。通過腳本語言用戶還可以自定義自動操作程序。

用戶界面友好的軟件與軟件工具

• 用戶界面友好的操作系統(tǒng)基于Windows™平臺，多用戶和多語言操作界面
• 同時的FIB/SEM成像，易于操作
• 實時圖像支持多窗口模式，可自定義實時圖像參數
• 圖像處理，報告生成，在線與離線圖像處理