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布魯克 (Bruker) 是表面測(cè)量和檢測(cè)技術(shù)的，服務(wù)于科研和生產(chǎn)領(lǐng)域。新一代白光干涉儀ContourGT系列結(jié)合了良好的64位多核操作和分析處理軟件，技術(shù)白光干涉儀（WLI）硬件和*的操作簡(jiǎn)易性，是歷年來(lái)來(lái)較良好的3D光學(xué)表面輪廓儀系統(tǒng)。該系統(tǒng)擁有超大視野內(nèi)亞埃級(jí)至毫米級(jí)的垂直計(jì)量范圍，樣品安裝靈活，且具有業(yè)界高的測(cè)量重復(fù)性。ContourGT系列是當(dāng)今生產(chǎn)研究和質(zhì)量控制應(yīng)用中，廣泛使用和直觀的3D表面計(jì)量平臺(tái)。

應(yīng)用：

    對(duì)LED行業(yè)、太陽(yáng)能行業(yè)、觸摸屏行業(yè)、半導(dǎo)體行業(yè)以及數(shù)據(jù)存儲(chǔ)行業(yè)等，提供*非接觸式測(cè)量方案，樣品從小至微米級(jí)別的微機(jī)電器件（MEMS），大到整個(gè)引擎部件，都可以獲得表面形貌、粗糙度、三維輪廓等精準(zhǔn)數(shù)據(jù)