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詳細(xì)介紹
電橋法介電常數(shù)測(cè)試儀
TEJDCS-2858系列 介電常數(shù)測(cè)試儀由高頻阻抗分析儀、測(cè)試裝置，標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品組成，能對(duì)絕緣材料進(jìn)行高低頻介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角(D或tanδ) 的測(cè)試。它符合國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。
TEJDCS-2858系列介電常數(shù)測(cè)試儀工作頻率范圍是20Hz～1MHz,它能完成工作頻率內(nèi)對(duì)絕緣材料的相對(duì)介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角 (D或tanδ)變化的測(cè)試。
TEJDCS-2858系列中測(cè)試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來(lái)夾被測(cè)樣品，配用高頻阻抗分析儀作為指示儀器。絕緣材料的介電常數(shù)和損耗值是通過(guò)被測(cè)樣品放入平板電容器和不放樣品的D值(損耗值)變化和Cp（電容值）讀數(shù)通過(guò)公式計(jì)算得到。
◎ 高頻阻抗分析儀電容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值顯示，保證了ε和D值精度和重復(fù)性。
◎ 介電常數(shù)測(cè)量范圍可達(dá)1～105
2 電橋法介電常數(shù)測(cè)試儀主要技術(shù)指標(biāo)：
2.1 ε和D性能：
2.1.1 固體絕緣材料測(cè)試頻率20Hz～1MHz的ε和D變化的測(cè)試。
2.1.2 ε和D測(cè)量范圍：ε：1～105，D：0.1～0.00005，
2.1.3 ε和D測(cè)量精度（10kHz）：ε：±2% ， D：±5%±0.0001。
2.2高頻阻抗分析儀和數(shù)字電橋
型號(hào) | TE2817A | TE2818A |
工作頻率范圍 | 30Hz～200kHz（39個(gè)頻點(diǎn)） 精度：±0.02% | 20Hz～1MHz 數(shù)字合成，精度：±0.02% |
電容測(cè)量范圍 | 0.0001pF～99.99mF 五位數(shù)顯 | 0.00001pF～9.99999F 六位數(shù)顯 |
電容測(cè)量基本誤差 | ±0.05% | ±0.05% |
損耗因素D值范圍 | 0.0001～9.9999 五位數(shù)顯 | 0.00001～9.99999 六位數(shù)顯 |
2.3 TE916B 介電常數(shù)測(cè)試裝置（含保護(hù)電極）
2.3.1 平板電容器極片尺寸：Φ38mm和Φ50mm二種可選.
2.3.2 平板電容器間距可調(diào)范圍和分辨率：0～8mm， ±0.001mm
2.3.3 插頭間距：與電橋四端配合
2.3.4 加溫控溫裝置(選購(gòu)設(shè)備)可以完成zui高200℃控溫精度l℃加熱測(cè)試。
2.4 TE918 精密介電常數(shù)測(cè)試裝置提供四種不同直徑測(cè)試電極，能對(duì)直徑φ10～56mm，
厚度<10mm的試樣精確測(cè)量。它針對(duì)不同試樣可設(shè)置為接觸電極法，薄膜電極法和非接
觸法三種，以適應(yīng)軟材料，表面不平整和薄膜試樣測(cè)試。
2.4.1 微分頭分辨率：10μm
2.4.2 zui高耐壓：±42Vp（AC+DC）
2.4.3 電纜長(zhǎng)度設(shè)置：1m
2.4.4 zui高使用頻率：30MHz
2.5 高頻介質(zhì)樣品（選購(gòu)件）：
在現(xiàn)行高頻介質(zhì)材料檢定系統(tǒng)中，檢定部門(mén)為高頻介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x提供的測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)是高頻標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品。該樣品由人工藍(lán)寶石，石英玻璃， 氧化鋁陶瓷，聚四氟乙烯，環(huán)氧板等材料做成Φ50mm，厚
1～2mm測(cè)試樣品。用戶可按需訂購(gòu)，以保證測(cè)試裝置的重復(fù)性和準(zhǔn)確性。
2.6 TEJDCS2858電橋法介電常數(shù)測(cè)試儀配置
配置類(lèi)型 | 普及型 | 標(biāo)準(zhǔn)型 | 精密型 |
電橋工作頻率范圍 | 50Hz～100kHz 精度：±0.02% | 50Hz～1MHz 精度：±0.02% | 50Hz～1MHz 精度：±0.02% |
配置型號(hào) | TE2817A數(shù)字電橋 +TE916B測(cè)試裝置 | TE2818A高頻阻抗分析儀 +TE916B三電極測(cè)試裝置 | TE2818A高頻阻抗分析儀 +TE918精密測(cè)試裝置 （能適宜各種樣品） |
介電常數(shù)范圍 | 1-100 精度：±5% | 1-100 精度：±2% | 1-100 精度：±2% |
損耗因素D值范圍 | 0.0001～9.9999 五位數(shù)顯 | 0.00001～9.99999 六位數(shù)顯 | 0.00001～9.99999 六位數(shù)顯 |