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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
德州標(biāo)智GM210涂層測(cè)厚儀廠家是磁性便攜式覆層測(cè)厚儀，它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)專(zhuān)業(yè)*的儀器。是具有廣泛使用范圍的磁性儀器。其技術(shù)參數(shù)*符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。
德州標(biāo)智GM210涂層測(cè)厚儀廠家
測(cè)量范圍：0~18000μm/0~71.9mil
分辨率：0.1μm/1μm/0.1mil
測(cè)量誤差：±0.03mm
基底zui小直徑：Φ12mm
基底zui小厚度：0.5mm
凸面基底zui小曲率半徑：2mm
凹面基底zui小曲率半徑：11mm
供電：2*1.5V AAA電池
工作溫度范圍：0~40℃
工作濕度范圍：10~95%RH
外形尺寸：65*31*108mm
重量：63.98g(不含電池)
注意事項(xiàng)
使用前應(yīng)仔細(xì)閱讀儀器使用說(shuō)明書(shū)
不同廠家、不同品牌的儀器在結(jié)構(gòu)、按鍵、校準(zhǔn)等方面各不相同，因此使用前必須先仔細(xì)閱讀儀器的使用說(shuō)明書(shū)，避免誤操作造成測(cè)量數(shù)據(jù)的錯(cuò)誤。
注意金屬基體材質(zhì)
不同金屬基體材料的磁性、導(dǎo)電率是不相同的，這都會(huì)對(duì)測(cè)量結(jié)果造成影響[9]。采用磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)，亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。由于基體金屬的成分及熱處理方法不同，導(dǎo)致其電導(dǎo)率不同，因此應(yīng)使用與被檢測(cè)試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
注意檢測(cè)試件形狀
在實(shí)際生產(chǎn)中，工件的材料厚度、形狀、表面粗糙度等存在差異，這些差異會(huì)對(duì)實(shí)際測(cè)量結(jié)果造成影響。每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度，大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響，如果試件材料厚度小于儀器所要求的臨界厚度，檢測(cè)結(jié)果就會(huì)與實(shí)際厚度有差別。一些儀器對(duì)試件表面形狀的陡變十分敏感，因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量的數(shù)值會(huì)不可靠，實(shí)際測(cè)量時(shí)應(yīng)選擇遠(yuǎn)離邊緣和內(nèi)轉(zhuǎn)角的部位。試件表面不僅存在形狀的陡變，還可能存在不同的曲率，一些儀器的測(cè)量結(jié)果總是隨著曲率半徑的減小明顯地增大。因此，即使在選擇儀器時(shí)考慮了zui小曲率半徑，測(cè)量時(shí)仍應(yīng)盡可能選擇在平面部位進(jìn)行測(cè)量。
以上也是在選擇測(cè)厚儀器時(shí)需要考慮zui小曲率半徑、zui小測(cè)量面積、zui小基體厚度的原因。