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美國(guó)是德LCR測(cè)試儀E4982A
閱讀：1525 發(fā)布時(shí)間：2019-1-9
美國(guó)是德LCR測(cè)試儀E4982A 模擬電路中應(yīng)用的*技術(shù)可使 4287A 具有更少的測(cè)量變異和更好的可重復(fù)性。綜合考慮測(cè)量結(jié)果的變異和測(cè)量速度可以看出，在同等的測(cè)量條件下，E4982A 的實(shí)際測(cè)量速度明顯高于 4287A。這就意味著 E4982A 在大限度地提高制造生產(chǎn)量的同時(shí)，還能夠測(cè)量更小的電感。
主要特性與技術(shù)指標(biāo)
頻率
1 MHz ～ 300 MHz / 500 MHz / 1 GHz / 3 GHz，可升級(jí)
測(cè)量時(shí)間
高速測(cè)量：0.9 ms（模式 1）、2.1 ms（模式 2）、3.7 ms（模式 3）
基本的精度和阻抗范圍
0.8% 的基本精度與的測(cè)量可重復(fù)性
寬阻抗測(cè)量范圍：140 mΩ ～ 4.8 kΩ
更多特性
SCPI 命令和處理器接口與 4287A 兼容
小巧的測(cè)試頭（與 4287A 的尺寸相同）
列表測(cè)量
通用 PC連通性（GPIB、LAN 和 USB）
的測(cè)量速度和可重復(fù)性
的精度和阻抗范圍
現(xiàn)代化的用戶界面與接口