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光學(xué)儀器: 微量注射器拉針器測量儀拋光研磨平臺顯微鏡振鏡激光能量計功率計轉(zhuǎn)盤自動調(diào)焦系統(tǒng) 操作儀刺激器整形器測試儀分析儀測試系統(tǒng) 刺激隔離器能量計單色儀氙燈轉(zhuǎn)換器干涉儀監(jiān)控系統(tǒng) 成像相機光學(xué)系統(tǒng) 掃描器拉伸器教學(xué)裝置濾波器讀數(shù)儀掃描系統(tǒng) 傳感器高光譜相機太陽光模擬器成像系統(tǒng) 鹵素?zé)?/a> 光束質(zhì)量分析系統(tǒng) 光纖激光轉(zhuǎn)速器光時域分析儀紅外觀察儀光源紅外相機探針臺相機可變形鏡，波前傳感器光束分析儀

光學(xué)晶體: 非線性晶體

透反射光譜測量系統(tǒng)采用電控獨立雙軸設(shè)計，配備高精度步進電機，控制發(fā)射端和接收端的角度測量，角分辨率達0.001°，重復(fù)精度達0.05°。光譜范圍覆蓋900-2500nm，通過軟件控制發(fā)射端和接收端的角度，實現(xiàn)快速的光譜測量，可用于透射/反射/散射/熒光/輻射等多種全角度模式的光譜測量。

透反射光譜測量系統(tǒng)

近紅外全角度透反射測量系統(tǒng)，900-2500nm，應(yīng)用于材料測量領(lǐng)域

樣品材料中的很多成份，當(dāng)光束以不同的角度入射時，得到的透射率和反射率會因入射角度的變化而變化。通過測量不同角度入射，可獲取材料在正入射時所得不到的信息，確定材料的最敏感角度，可以為進一步的研究或設(shè)計測量儀器提供依據(jù)。

我們提供可見-近紅外全角度透反射測量系統(tǒng)搭配光譜儀和其他測量附件，可以實現(xiàn)光源的不同角度入射和接收，適用于mm量級樣品的透射光譜測量及反射光譜測量。透反射光譜測量系統(tǒng)采用電控獨立雙軸設(shè)計，配備高精度步進電機，控制發(fā)射端和接收端的角度測量，角分辨率達0.001°，重復(fù)精度達0.05°。光譜范圍覆蓋900-2500nm，通過軟件控制發(fā)射端和接收端的角度，實現(xiàn)快速的光譜測量，可用于透射/反射/散射/熒光/輻射等多種全角度模式的光譜測量。

主要特點：

-全角度測量：反射和透射，可以實現(xiàn)-90°至90°范圍測量，散射、熒光和輻射，可以實現(xiàn)0°至180°測量。

-多種角度測量模式：可以進行反射、透射、熒光、散射輻射等多種光譜測量

-精確角度控制：高精度電機，角度精度達0.05°

-多維調(diào)節(jié)樣品臺：樣品臺由高精度三維位移臺和三維旋轉(zhuǎn)臺組成，可實現(xiàn)樣品的6維調(diào)節(jié)