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北京北信科遠(yuǎn)儀器有限責(zé)任公司

主營(yíng)產(chǎn)品: 搖擺式脫色搖床,實(shí)驗(yàn)室電子分析天平,一體涂層測(cè)厚儀

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行業(yè)專(zhuān)用儀器儀表

物理學(xué)儀器

放射類(lèi)/磁力儀器

水質(zhì)檢測(cè)儀

水位計(jì)/液位計(jì)/物位計(jì)

氣象儀器

食品安全系列

工程地質(zhì)勘探儀器

色譜儀

壓力傳感器/壓力儀表、力學(xué)測(cè)試

測(cè)距儀/測(cè)速儀

礦用設(shè)備

實(shí)驗(yàn)室常用設(shè)備、化行業(yè)工設(shè)備

無(wú)損檢測(cè)儀器/測(cè)厚儀系列

測(cè)溫儀、溫度計(jì)系列

硬度計(jì)系列

流量計(jì)/流速儀

光學(xué)儀器

氣體檢測(cè)儀系列

電力設(shè)備

環(huán)境檢測(cè)設(shè)備

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[供應(yīng)]SN/RTS-4-數(shù)字式四探針測(cè)試儀 薄層電阻測(cè)定儀北京供應(yīng)
SN/RTS-4-數(shù)字式四探針測(cè)試儀 薄層電阻測(cè)定儀北京供應(yīng)
貨物所在地:
北京北京市
更新時(shí)間:
2024-09-12 21:00:06
有效期:
2024年9月12日--2025年3月12日
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【簡(jiǎn)單介紹】數(shù)字式四探針測(cè)試儀 薄層電阻測(cè)定儀北京供應(yīng)數(shù)字式四探針測(cè)試儀運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的,專(zhuān)用于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專(zhuān)用儀器。
儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成,測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示,亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析。
【詳細(xì)說(shuō)明】

數(shù)字式四探針測(cè)試儀 薄層電阻測(cè)定儀 

型號(hào):SN/RTS-4

產(chǎn)品簡(jiǎn)介:

數(shù)字式四探針測(cè)試儀運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的,于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀器。
儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成,測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示,亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析,然后以表格,圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測(cè)試結(jié)果。

數(shù)字式四探針測(cè)試儀 薄層電阻測(cè)定儀北京供應(yīng)儀器采用了電子技術(shù)進(jìn)行設(shè)計(jì)、裝配。具有功能選擇直觀、測(cè)量取數(shù)快、精度高、測(cè)量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等特點(diǎn)。
本儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體器件廠、科研單位、高等院校對(duì)半導(dǎo)體材料的電阻性能測(cè)試。

四探針軟件測(cè)試系統(tǒng)是一個(gè)運(yùn)行在計(jì)算機(jī)上擁有友好測(cè)試界面的用戶程序,通過(guò)此測(cè)試程序輔助使用戶簡(jiǎn)便地進(jìn)行各項(xiàng)測(cè)試及獲得測(cè)試數(shù)據(jù)并對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析。
測(cè)試程序控制四探針測(cè)試儀進(jìn)行測(cè)量并采集測(cè)試數(shù)據(jù),把采集到的數(shù)據(jù)在計(jì)算機(jī)中加以分析,然后把測(cè)試數(shù)據(jù)以表格,圖形直觀地記錄、顯示出來(lái)。用戶可對(duì)采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看,還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到excel中,讓用戶對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行各種數(shù)據(jù)分析

數(shù)字式四探針測(cè)試儀 薄層電阻測(cè)定儀北京供應(yīng)技術(shù)參數(shù):

測(cè)量范圍:電阻率:0.0001~2000ω.cm(可擴(kuò)展);
 方塊電阻:0.001~20000ω/□(可擴(kuò)展); 
 電導(dǎo)率:0.0005~10000 s/cm; 
 電阻:0.0001~2000ω.cm; 

可測(cè)晶片直徑:140mmx150mm(配s-2a型測(cè)試臺(tái));
 200mmx200mm(配s-2b型測(cè)試臺(tái));
 400mmx500mm(配s-2c型測(cè)試臺(tái));

恒流源:電流量程分為0.1ma、1ma、10ma、100ma四檔,各檔電流連續(xù)可調(diào)

數(shù)字電壓表:量程及表示形式:000.00~199.99mv;

 分辨力:10μv;
 輸入阻抗:>1000mω;
 精度:±0.1% ;
 顯示:四位半紅色發(fā)光管數(shù)字顯示;極性、超量程自動(dòng)顯示;

四探針探頭基本指標(biāo):間距:1±0.01mm;
 針間絕緣電阻:≥1000mω; 
 機(jī)械游移率:≤0.3%;
 探針:碳化鎢或高速鋼ф0.5mm;
 探針壓力:5~16 牛頓(總力);

數(shù)字式四探針測(cè)試儀 薄層電阻測(cè)定儀北京供應(yīng)應(yīng)用參數(shù):(見(jiàn)探頭附帶的合格證)

模擬電阻測(cè)量相對(duì)誤差(按jjg508-87進(jìn)行):0.1ω、1ω、10ω、100ω小于等于0.3%±1字

整機(jī)測(cè)量zui大相對(duì)誤差:(用硅標(biāo)樣片:0.01-180ω.cm測(cè)試)≤±5%

整機(jī)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)不確定度:≤5%

測(cè)試模式:可連接電腦測(cè)試也可不連接電腦測(cè)試

軟件功能(選配):軟件可記錄、保存、打印每一點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù),并統(tǒng)計(jì)分析測(cè)試數(shù)據(jù)zui大值、zui小值、平均值、zui大百分變化、平均百分變化、徑向不均勻度、并將數(shù)據(jù)生成直方圖,也可把測(cè)試數(shù)據(jù)輸出到excel中,對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行各種數(shù)據(jù)分析。軟件還可選擇自動(dòng)測(cè)量功能,根據(jù)樣品電阻大小自動(dòng)選擇適合電流量程檔測(cè)試。

計(jì)算機(jī)通訊接口:并口,高速并行采集數(shù)據(jù),連接電腦使用時(shí)采集數(shù)據(jù)到電腦的時(shí)間只需要1.5秒

標(biāo)準(zhǔn)使用環(huán)境:溫度:23±2℃;相對(duì)濕度:≤65%;無(wú)高頻干擾;無(wú)強(qiáng)光直射。



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