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北京北信科遠儀器有限責(zé)任公司

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[供應(yīng)]SN/LT-2-單晶少子壽命測試儀 非平衡少數(shù)載流子壽命測定儀
SN/LT-2-單晶少子壽命測試儀 非平衡少數(shù)載流子壽命測定儀
貨物所在地:
北京北京市
更新時間:
2024-09-12 21:00:06
有效期:
2024年9月12日--2025年3月12日
已獲點擊:
192
【簡單介紹】單晶少子壽命測試儀 非平衡少數(shù)載流子壽命測定儀
LT-2型單晶少子壽命測試儀是參考美國 A.S.T.M 標準而設(shè)計的用于測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命。半導(dǎo)體材料的少數(shù)載流子壽命測量,是半導(dǎo)體的常規(guī)測試項目之一。本儀器靈敏度較高,配備有紅外光源,可測量包括集成電路級硅單晶在內(nèi)的各種類型硅單晶,以及經(jīng)熱處理后壽命驟降的硅單晶、多晶磷檢棒的壽命測量等。
【詳細說明】

單晶少子壽命測試儀 非平衡少數(shù)載流子壽命測定儀

型號:SN/LT-2

LT-2型單晶少子壽命測試儀是參考美國 A.S.T.M 標準而設(shè)計的用于測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命。半導(dǎo)體材料的少數(shù)載流子壽命測量,是半導(dǎo)體的常規(guī)測試項目之一。本儀器靈敏度較高,配備有紅外光源,可測量包括集成電路級硅單晶在內(nèi)的各種類型硅單晶,以及經(jīng)熱處理后壽命驟降的硅單晶、多晶磷檢棒的壽命測量等。
 
   本儀器根據(jù)通用方法高頻光電導(dǎo)衰退法的原理設(shè)計,由穩(wěn)壓電源、高頻源、檢波放大器,特制的InGaAsp/InP紅外光源及樣品臺共五部份組成。采用印刷電路和高頻接插連接。整機結(jié)構(gòu)緊湊、測量數(shù)據(jù)可靠。
技 術(shù) 指 標
 
 測試單晶電阻率范圍 >2Ω.cm
 可測單晶少子壽命范圍 5μS~7000μS
 配備光源類型 波長:1.09μm;余輝<1 μS;
 閃光頻率為:20~30次/秒;
 閃光頻率為:20~30次/秒;
 高頻振蕩源 用石英諧振器,振蕩頻率:30MHz
 前置放大器 放大倍數(shù)約25,頻寬2 Hz-1 MHz
 儀器測量重復(fù)誤差 <±20%
 測量方式 采用對標準曲線讀數(shù)方式
 儀器消耗功率 <25W
 儀器工作條件 溫度: 10-35℃、 濕度 < 80%、使用電源:AC 220V,50Hz
 可測單晶尺寸 斷面豎測:φ25mm—150mm; L 2mm—500mm;
 縱向臥測:φ25mm—150mm; L 50mm—800mm;
 配用示波器 頻寬0—20MHz;
 電壓靈敏:10mV/cm;


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