HR-SPM
觀察生動的納米世界

HR-SPM是采用頻率檢測方式（Frequency Modulation）的新一代掃描探針顯微鏡。不僅可在大氣·液體環(huán)境中實(shí)現(xiàn)超高分辨率的觀察，還*實(shí)現(xiàn)了固液界面的水化作用層（hydration）·溶劑化作用層（solvation）的觀察。
HR-SPM：High Resolution Scanning Probe Microscope

●采用FM(頻率調(diào)制)方式
●大氣·液體環(huán)境中的噪聲減少到以往的1/20
●在大氣·液體環(huán)境中實(shí)現(xiàn)真空型SPM的性能水平！

以往的SPM（掃描型探針顯微鏡）/AFM（原子力顯微鏡）是AM（振幅調(diào)制）方式，而FM（頻率調(diào)制）方式從原理上就因?yàn)楦哽`敏度檢測從而可實(shí)現(xiàn)更高的分辨率。

SPM：Scanning Probe Microseope
AFM：Atomic Force Microscope
AM：Amplitude Modulation
FM：Frequency Modulation

TiO2基板上的Pt催化粒子被識別了出來，并通過KPFM進(jìn)行表面電勢的測定?？梢杂^察到數(shù)nm大小的Pt粒子和基板間的電荷交換。右圖中，紅色○區(qū)域是正電勢，藍(lán)色□區(qū)域是負(fù)電勢?？梢妼τ贙PFM觀察，分辨率也得到了大幅的提高。

＊KPFM（Keivin Probe Force Microscope）功能為特殊定制。