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重慶尚立儀器設(shè)備有限公司

當(dāng)前位置:> 供求商機(jī)> Phenom GSR-qiang擊殘留物臺(tái)式掃描電鏡

[供應(yīng)]Phenom GSR-qiang擊殘留物臺(tái)式掃描電鏡

貨物所在地:重慶重慶市

更新時(shí)間:2024-10-26 21:00:07

有效期:2024年10月26日 -- 2025年4月26日

已獲點(diǎn)擊:361

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Phenom GSRqiang擊殘留物臺(tái)式掃描電鏡在qiangzhi犯罪事件中,qiang擊殘留物 GSR 的分析將發(fā)揮重要的作用。GSR 分析技術(shù)首先基于掃描電子顯微鏡 (SEM) 的背散射成像,用來(lái)掃描樣品和發(fā)現(xiàn)可疑的 “GSR" 顆粒。一旦發(fā)現(xiàn)可疑的顆粒,使用能譜識(shí)別在該粒子中的元素。Z常見(jiàn)的搜索元素為 Pb,Sb 和 Ba。無(wú)鉛底火的檢測(cè),例如 Ti 和 Zn 也可Z為搜索條件進(jìn)行搜索。

Phenom GSRqiang擊殘留物臺(tái)式掃描電鏡在qiangzhi犯罪事件中,qiangzhi殘留物 GSR 的分析將發(fā)揮重要的作用。GSR 分析技術(shù)首先基于掃描電子顯微鏡 (SEM) 的背散射成像,用來(lái)掃描樣品和發(fā)現(xiàn)可疑的 “GSR” 顆粒。一旦發(fā)現(xiàn)可疑的顆粒,使用能譜(EDS)識(shí)別在該粒子中的元素。 常見(jiàn)的搜索元素為 Pb,Sb 和 Ba。無(wú)鉛底火的檢測(cè),例如 Ti 和 Zn 也可 為搜索條件進(jìn)行搜索。

Phenom GSRqiang擊殘留物臺(tái)式掃描電鏡自動(dòng)qiangzhi殘留物分析是*在臺(tái)式掃描電鏡運(yùn)行自動(dòng)qiangzhi殘留物分析軟件。其設(shè)計(jì)基于飛納臺(tái)式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL。軟件和硬件*一體化,以提高用戶操作界面友好性,可靠性和分析速度。Phenom GSR 包括以下三個(gè)項(xiàng)目:自動(dòng)槍擊殘留物分析和分類軟件包,BSED 和 EDS 探頭內(nèi)部集成,校準(zhǔn)試樣。

Phenom GSRqiang擊殘留物臺(tái)式掃描電鏡自動(dòng)qiangzhi殘留物分析配備 CeB6 燈絲,使其穩(wěn)定運(yùn)行,燈絲壽命不低于 1500 個(gè)小時(shí),從可用性,適用性和運(yùn)行時(shí)間的角度來(lái)看都非常理想。小于 1 分鐘的加載時(shí)間,和快速的全自動(dòng)馬達(dá)樣品臺(tái),使得飛納 GSR 成為高度自動(dòng)化應(yīng)用的理想工具,可以用來(lái)進(jìn)行自動(dòng)qiang擊殘留物分析。

格參數(shù)

 

Phenom GSR

光學(xué)放大

3 - 16 X

電子光學(xué)放大

80 - 100,000 X

分辨率

優(yōu)于 20 nm

數(shù)字放大

Max. 12 X

光學(xué)導(dǎo)航相機(jī)

彩色

加速電壓

4.8 Kv - 20.5 Kv 連續(xù)可調(diào)

真空模式

高分辨率模式

降低核電效應(yīng)模式

高真空模式

探測(cè)器

背散射電子探測(cè)器

二次電子探測(cè)器 (選配)

樣品尺寸

大 100 mm X 100 mm

可同時(shí)裝載 36 個(gè) 0.5 英寸樣品臺(tái)

樣品高度

高 65 mm,樣品高度全自動(dòng)調(diào)節(jié)

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