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冷場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡(SEM)對(duì)樣品的要求有哪些？
閱讀：1744 發(fā)布時(shí)間：2023-5-27
冷場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡(SEM)具有超高分辨率，能做各種固態(tài)樣品表面形貌的二次電子像、反射電子象觀察及圖像處理。冷場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡(SEM)利用二次電子成像原理，在鍍膜或不鍍膜的基礎(chǔ)上，低電壓下通過(guò)在納米尺度上觀察生物樣品如組織、細(xì)胞、微生物以及生物大分子等，獲得忠實(shí)原貌的立體感很強(qiáng)的樣品表面超微形貌結(jié)構(gòu)信息。 具有高性能x射線能譜儀，能同時(shí)進(jìn)行樣品表層的微區(qū)點(diǎn)線面元素的定性、半定量及定量分析，具有形貌、化學(xué)組分綜合分析能力。
冷場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡的主要優(yōu)勢(shì)就是分辨率高，尤其是低加速電壓下的分辨率更是遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過(guò)鎢燈絲電鏡。因此更適合于進(jìn)行真實(shí)的表面分析，特別是薄膜樣品。
冷場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡(SEM)對(duì)樣品要求：
樣品形態(tài)：送檢樣品必須為干燥固體、塊狀、片狀、纖維狀及粉末狀均可
樣品尺寸：樣品高度小于15mm，直徑小于30mm
特殊要求：樣品應(yīng)具有導(dǎo)電性。若樣品不導(dǎo)電，需要進(jìn)行噴金、碳等導(dǎo)電膜的處理；樣品中含有鐵（Fe）、鈷(Co)、鎳(Ni)，需要在委托測(cè)試單中重點(diǎn)標(biāo)識(shí)，進(jìn)行特殊處理；樣品中不得含有水分，多孔類或易潮解的樣品，請(qǐng)?zhí)崆罢婵崭稍锾幚怼?/div>