紅外線氣體分析儀的工作原理分析
閱讀:2146 發(fā)布時間:2019-12-9
紅外線氣體分析儀基于氣體對紅外光吸收的郎伯--比爾吸收定律,采用上新的NDIR技術(shù), 如電調(diào)制紅外光源、高靈敏度濾光傳感一體化紅外傳感器、高精度前置放大 電路、可拆卸式鍍膜氣室,局部恒溫控制技術(shù)等,實現(xiàn)不同濃度、不同氣體 (SO2、NOX、CO2、CO、CH4等)的高精度連續(xù)檢測。
紅外線氣體分析儀,是利用紅外線進行氣體分析。它基于待分析組分的濃度不同,吸收的輻射能不同.剩下的輻射能使得檢測器里的溫度升高不同,動片薄膜兩邊所受的壓力不同,從而產(chǎn)生一個電容檢測器的電信號。這樣,就可間接測量出待分析組分的濃度。
--紅外線通過介質(zhì)前的輻射強度;
紅外線氣體分析儀,是利用紅外線進行氣體分析。它基于待分析組分的濃度不同,吸收的輻射能不同.剩下的輻射能使得檢測器里的溫度升高不同,動片薄膜兩邊所受的壓力不同,從而產(chǎn)生一個電容檢測器的電信號。這樣,就可間接測量出待分析組分的濃度。
1.比爾定律
紅外線氣體分析儀是根據(jù)比爾定律制成的。假定被測氣體為一個無限薄的平面.強度為k的紅外線垂直穿透它,則能量衰減的量為:
(比爾定律)
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式中:I--被介質(zhì)吸收的輻射強度;
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k--待分析組分對輻射波段的吸收系數(shù);
C--待分析組分的氣體濃度;
L--氣室長度(赦測氣體層的厚度)
對于一臺制造好了的紅外線氣體分析儀,其測量組分已定,即待分析組分對輻射波段的吸收系數(shù)k一定;紅外光源已定,即紅外線通過介質(zhì)前的輻射強度
一定;氣室長度L一定。從比爾定律可以看出:通過測量輻射能量的衰減I,就可確定待分析組分的濃度C了。
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