更新設(shè)備一定要選OmniScan X3探傷儀的5個(gè)原因
OmniScan家族的新成員閃亮登場(chǎng)
信心滿滿,昭然可見(jiàn)! 這是我們用于描述新款OmniScan X3探傷儀的詞語(yǔ)。這兩個(gè)詞語(yǔ)有何深意? 它們恰當(dāng)?shù)孛枋隽诉@款OmniScan儀器的強(qiáng)大性能:用戶可以根據(jù)儀器屏幕上顯示的信息,充滿信心地做出正確的判讀。除了可以提供*、高度詳細(xì)的圖像之外,OmniScan X3探傷儀還配備有齊全的創(chuàng)新型模擬和可視化工具,可以使用戶在現(xiàn)場(chǎng)確認(rèn)并驗(yàn)證檢測(cè)情況。OmniScan X3不僅僅是OmniScan MX2的升級(jí)版儀器,它實(shí)際上是一款功能齊備的相控陣工具箱。得益于儀器的高級(jí)成像和分析能力,被測(cè)材料中的缺陷更加難以遁形。
更新?lián)Q代檢測(cè)設(shè)備,改用OmniScan X3探傷儀的5個(gè)原因:
1. 眼見(jiàn)為實(shí):全聚焦方式(TFM)圖像具有很高的清晰度,可使用戶在檢測(cè)過(guò)程中大受裨益。OmniScan X3探傷儀的高級(jí)全聚焦方式(TFM)處理工具包括一個(gè)可以消除回波和偽影的實(shí)時(shí)包絡(luò)功能,從而增強(qiáng)了探測(cè)到難以發(fā)現(xiàn)的微小缺陷的性能,如:細(xì)小的高溫氫致(HTHA)缺陷。一旦看到了圖像,就很難駁斥其中顯示的結(jié)果。
未使用實(shí)時(shí)包絡(luò)功能:高溫氫致(HTHA)缺陷不太明顯
使用了實(shí)時(shí)包絡(luò)功能:高溫氫致(HTHA)缺陷明顯可見(jiàn)
2. 全角度覆蓋:通過(guò)全矩陣捕獲(FMC)數(shù)據(jù)生成的全聚焦方式(TFM)圖像不僅具有很高的分辨率,而且還可以正確反映工件的幾何形狀,從而可使用戶更輕松地了解缺陷在工件中的位置和方向。用戶還可以同時(shí)觀察多4種不同傳播模式的全聚焦方式(TFM)圖像,并比較這些圖像。這個(gè)功能有助于用戶發(fā)現(xiàn)具有異常方向的缺陷。
3. 比較和確認(rèn):新的高級(jí)軟件工具可在檢測(cè)之前、之中、之后為用戶提供更多的優(yōu)勢(shì)特性:
- 忘記了您的掃查計(jì)劃? 沒(méi)有關(guān)系!我們可以在現(xiàn)場(chǎng)使用機(jī)載向?qū)?shí)時(shí)創(chuàng)建一個(gè)掃查計(jì)劃。聲束模擬器可以使用戶觀察到聲束,其中包括全聚焦方式(TFM)區(qū)域,并在現(xiàn)場(chǎng)根據(jù)需要對(duì)聲束進(jìn)行調(diào)整。掃查計(jì)劃中包含一個(gè)聲學(xué)影響圖(AIM)工具,這個(gè)工具所生成的模型會(huì)向用戶表明探測(cè)靈敏度所在的區(qū)域,以及掃查覆蓋不到的區(qū)域。
- 在檢測(cè)過(guò)程中,可以使用“分屏”形式同時(shí)顯示多個(gè)視圖,從而可使用戶將多4種不同聲波傳播模式的結(jié)果進(jìn)行比較。這個(gè)功能有助于驗(yàn)證和表征所探測(cè)到的缺陷類型,并確定放置定量光標(biāo)的確切位置,從而可提高缺陷度測(cè)量的準(zhǔn)確性。
- 在檢測(cè)之后,用戶可以使用OmniPC軟件對(duì)檢測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析。如今,OmniPC軟件為用戶提供了在屏幕上同時(shí)顯示兩個(gè)不同的檢測(cè)文件并將文件進(jìn)行比較的選項(xiàng)。如果想要將焊縫每一側(cè)的視圖并排放在一起進(jìn)行觀察,或者需要對(duì)比在不同檢測(cè)時(shí)間采集的視圖而跟蹤缺陷的發(fā)展情況,則這個(gè)功能可以大顯身手。
4. 滿足用戶對(duì)速度的需求:多組顯示、較大的文件容量、800%的高波幅范圍以及簡(jiǎn)化的菜單結(jié)構(gòu),都有助于加速檢測(cè)進(jìn)程,而且加快檢測(cè)進(jìn)程的功能還不只這些。此外,得益于包括全聚焦方式(TFM)圖像在內(nèi)的一些高級(jí)、靈活的數(shù)據(jù)解讀工具,還可以更快地完成分析操作。
5. 大大地縮短了設(shè)置時(shí)間:擁有了可以更方便、更有效地配置儀器的多個(gè)功能,用戶可以立即投入到檢測(cè)工作中:
- 改進(jìn)的快速校準(zhǔn):靈敏度、時(shí)間校正增益(TCG)
- 同時(shí)完成多組配置
- 對(duì)保存的設(shè)置進(jìn)行簡(jiǎn)化的校準(zhǔn)驗(yàn)證
- 簡(jiǎn)潔的衍射時(shí)差(TOFD)菜單去除了一些不必要的步驟