當(dāng)前斷路器回路電阻測(cè)試儀都是采用典型的四線(xiàn)制測(cè)量法，用高頻開(kāi)關(guān)電源產(chǎn)生大于100A的直流測(cè)試電流，施加于制造廠(chǎng)規(guī)定的被測(cè)體兩端，并測(cè)量電流流過(guò)被測(cè)體產(chǎn)生的壓降，采樣電路同時(shí)對(duì)電壓輸入端和內(nèi)部電流分流器電壓進(jìn)行采樣，取得的信號(hào)經(jīng)放大器放大，由A/D轉(zhuǎn)換器將模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)后，再經(jīng)微處理器對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行濾波、運(yùn)算、處理，通過(guò)計(jì)算電壓值和電流值之比得出被測(cè)體的直流電阻值，后送顯示器顯示出此次測(cè)量的電流和電阻值。并可以在當(dāng)電流測(cè)試回路出現(xiàn)斷線(xiàn)或接觸不良時(shí)，儀器會(huì)根據(jù)電流分流器上的電壓判斷出電流回路接觸不良或開(kāi)路。

現(xiàn)有的測(cè)試方法存在著居多問(wèn)題：電壓回路開(kāi)路，測(cè)試現(xiàn)場(chǎng)沒(méi)有強(qiáng)電場(chǎng)干擾、電壓回路接觸不良、電壓回路開(kāi)路或接觸不良（開(kāi)路時(shí)可視接觸電阻R1無(wú)窮大），測(cè)試現(xiàn)場(chǎng)有較強(qiáng)的電磁干擾等問(wèn)題。

根據(jù)對(duì)以上問(wèn)題的分析論證發(fā)現(xiàn)，改進(jìn)四線(xiàn)制測(cè)量法，在典型四線(xiàn)制測(cè)量法的基礎(chǔ)上增加一個(gè)輔助的小電流恒流源，并通過(guò)繼電器接到典型四線(xiàn)制測(cè)量法的電壓V＋、V——測(cè)試線(xiàn)上，可以*解決目前傳統(tǒng)回路電阻測(cè)試儀存在的問(wèn)題。打破了長(zhǎng)期以來(lái)四線(xiàn)制測(cè)量法不在電壓測(cè)試線(xiàn)上加電流的局限，成功解決了回路電阻測(cè)試儀由于電壓線(xiàn)開(kāi)路或接觸不良造成的虛假數(shù)據(jù)問(wèn)題，并成功實(shí)現(xiàn)了智能化測(cè)量。測(cè)試時(shí)先通過(guò)繼電器接點(diǎn)將輔助恒流源接到電壓測(cè)試線(xiàn)的兩端，電壓測(cè)試線(xiàn)通過(guò)試品電阻構(gòu)成回路。當(dāng)電壓線(xiàn)接于斷路器端子排后，小電流恒流源若工作在恒流狀態(tài)下，則整個(gè)電壓回路的電阻比較小，電壓測(cè)試端測(cè)試的電壓值較小，此時(shí)警告提示信號(hào)不啟動(dòng)，表明電壓線(xiàn)鉗夾與斷路器端子排接觸良好；如果電壓線(xiàn)接于斷路器端子排后，小電流恒流源不能工作在恒流狀態(tài)，電壓測(cè)試端測(cè)試的電壓值很大，接近小電流恒流源的開(kāi)路電壓，則可以判斷電壓線(xiàn)接觸不良，此時(shí)啟動(dòng)警告提示信號(hào)，提醒測(cè)試人員處理接觸異常。

之后通過(guò)繼電器斷開(kāi)輔助的小電流恒流源，再接通大電流恒流源給試品加電測(cè)試，通過(guò)采集電壓電流的數(shù)值，計(jì)算試品的電阻值。此時(shí)測(cè)出的數(shù)值一定是試品的真實(shí)的電阻值，杜絕了虛假數(shù)據(jù)的產(chǎn)生。即使現(xiàn)場(chǎng)有較強(qiáng)電場(chǎng)干擾，由于電壓回路中的電阻很小，感應(yīng)到電壓測(cè)試端的電壓為共模電壓，本產(chǎn)品通過(guò)電容接地的方式將這個(gè)交流共模干擾降到很低，不會(huì)對(duì)測(cè)試精度產(chǎn)生影響。

小電流恒流源還可以擊穿一些較輕微的氧化膜或油膜，自動(dòng)改變接觸狀況，可以節(jié)省處理時(shí)間，提高了測(cè)試效率。以上表明自動(dòng)判斷和提示功能大大提高了測(cè)試準(zhǔn)確性和提高了生產(chǎn)效率，是現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)人員快速解決問(wèn)題的可靠依靠。

通過(guò)原理分析和實(shí)際應(yīng)用的檢驗(yàn)，采用改進(jìn)型四線(xiàn)制測(cè)量法的斷路器回路電阻測(cè)試儀，很好的解決了由于電壓線(xiàn)接觸不良產(chǎn)生的誤判、虛假數(shù)據(jù)等問(wèn)題，使測(cè)試數(shù)據(jù)更趨于穩(wěn)定可靠，避免了原理上的原因造成的測(cè)試不準(zhǔn)確，實(shí)現(xiàn)了真正的智能化測(cè)量，是今后斷路器直阻測(cè)試的改進(jìn)方向。