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鋼研納克檢測(cè)技術(shù)股份有限公司

BUSINESS

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[供應(yīng)]鋼研納克波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀

貨物所在地:北京北京市

產(chǎn)地:北京

更新時(shí)間:2024-11-15 16:21:11

有效期:2024年8月6日 -- 2025年2月6日

已獲點(diǎn)擊:672

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在*國(guó)家重大科學(xué)儀器專項(xiàng)(2012YQ050076)的支持下,鋼研納克針對(duì)金屬、建材、地質(zhì)、環(huán)境、礦產(chǎn)等領(lǐng)域?qū)o機(jī)元素分析技術(shù)的需求,先后攻克了X射線源、分光光路系統(tǒng)、探測(cè)器等關(guān)鍵技術(shù),成功研制了順序式波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀——CNX-808。與國(guó)家地質(zhì)實(shí)驗(yàn)測(cè)試中心等多家測(cè)試機(jī)構(gòu)合作,開發(fā)了適合各行業(yè)的分析測(cè)試方法,建立了針對(duì)金屬、地質(zhì)、建材、環(huán)境、礦物等領(lǐng)域多種類型樣品的方法體系
    順序式波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀應(yīng)用領(lǐng)域:

    地質(zhì)樣品領(lǐng)域:

    CNX-808針對(duì)地質(zhì)領(lǐng)域壓片和熔片兩類樣品分別開發(fā)了應(yīng)用方法體系,可以為地質(zhì)研究、找礦提供可靠的檢測(cè)數(shù)據(jù)。

    建材樣品領(lǐng)域:

    CNX-808針對(duì)多種建材樣品的分析需求,建立了水泥、涂料等樣品應(yīng)用方法體系,實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品的高精度分析。

    新材料樣品領(lǐng)域:

    CNX-808能夠解決新材料研究領(lǐng)域?qū)挿?、無損、全元素分布分析的難題。

    生態(tài)環(huán)境領(lǐng)域:

    CNX-808針對(duì)生態(tài)環(huán)境中的土壤、植物、水系沉積物、空氣顆粒物等樣品的分析需求,建立了整體的解決方案。通過研究不同時(shí)期形成的土壤層、沉積層中的有害重金屬元素含量分布特征,為環(huán)境評(píng)價(jià)提供可靠的指標(biāo)參數(shù)。

    順序式波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀性能展示:

    高穩(wěn)定高精度X射線源:

    4kW大功率高壓發(fā)生器,保證更低的檢測(cè)下限和更快的分析速度;優(yōu)化的功率自動(dòng)調(diào)節(jié)程序,能夠快速調(diào)整功率,監(jiān)控X射線管狀態(tài),提高使用壽命;一體化冷卻水機(jī),提供對(duì)X射線管更可靠的保護(hù)。

    優(yōu)秀的光路設(shè)計(jì):

    光程短,有利于獲得更大的計(jì)數(shù)率。提供zui多10組濾光片、10組光闌、4組初級(jí)準(zhǔn)直器、10組分光晶體的配置。

    波譜能譜復(fù)合功能(選配)

    波譜能譜復(fù)合可以提高數(shù)據(jù)質(zhì)量和檢測(cè)速度,選配的SDD探測(cè)器,提供更加靈活的分析手段,兩種功能深度復(fù)合。分布分析時(shí),可以根據(jù)實(shí)際需求,任選一種探測(cè)器。

    可靠的高精度測(cè)角儀:

    θ/2θ單獨(dú)驅(qū)動(dòng),測(cè)角儀采用成熟可靠的傳動(dòng)和反饋技術(shù),在保證性能優(yōu)異的同時(shí),具有可靠性高、使用壽命長(zhǎng)等特點(diǎn)。

    便捷強(qiáng)大的分析測(cè)試軟件:

    界面友好,操作便捷,內(nèi)置多種算法,全自動(dòng)化測(cè)試過程,滿足定量定性分析需要。

波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀指標(biāo)
硬件配置 高壓發(fā)生器 最大電壓:60kV
最大電流:150mA
最大功率:4kW
長(zhǎng)期穩(wěn)定度:0.01%
X射線管 端窗
可選靶材:Rh、Cu、Mo、W、Cr、Pt
鈹窗厚度:75μm/50μm可選
自動(dòng)進(jìn)樣器 1位/48位可選,機(jī)械手自動(dòng)進(jìn)樣系統(tǒng)
樣品尺寸 固體,最大φ50mm*H30mm
樣品臺(tái) 極坐標(biāo)定位、帶自旋功能
初級(jí)濾光片 Ti、Zr、Cu、Al等多種材質(zhì)和厚度可選,zui多可配10片
光闌 φ35,30,25,20,10,3,1,0.5mm及衰減器
初級(jí)準(zhǔn)直器 150、300、500、750、3000μm可選,做多可配4種
測(cè)角儀 θ-2θ獨(dú)立驅(qū)動(dòng)
掃描范圍:SC(1-118°)、PC(10-148°)
步進(jìn)角度:0.001°、0.002°、0.005°、0.01°、0.02°、0.05°、0.1°
角度重復(fù)性:±0.0005°
角度精度:±0.0005°
分光晶體 10位晶體交換器,liF200、LiF220、PET、Ge、多層膜晶體等可選
探測(cè)器 閃爍體計(jì)數(shù)器(SC)、正比式流氣計(jì)數(shù)器(F-PC)
恒溫器 36.5±0.1℃
真空系統(tǒng) 分析室和進(jìn)樣室雙真空
選配件 分析室充He氣系統(tǒng)(分析液體樣品的氣氛)
能譜探測(cè)器SDD,可與波譜復(fù)合使用,提高檢測(cè)效率
樣品CCD照相系統(tǒng),配合分布分析使用
儀器指標(biāo) 達(dá)到《JJG 810-1993 波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀檢定規(guī)程》*

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