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絕緣材料表面體積電阻率測(cè)試儀，液晶顯示: 電阻率、壓強(qiáng)、溫度、電導(dǎo)率、電流電壓、可輸入測(cè)試樣品數(shù)據(jù)（圓柱：直徑，高度；方體：長*寬*高）單位可以切換

FT-103E固態(tài)速溶茶自由流動(dòng)堆積密度測(cè)定儀瑞柯儀器固態(tài)速溶茶自由流動(dòng)堆積密度測(cè)定儀依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)：GB/T18798-2013本部分規(guī)定了測(cè)定固態(tài)速溶茶自由流動(dòng)堆...

FT-104A 氧化鋁/氟化鋁安息角測(cè)定儀氧化鋁/氟化鋁粉末安息角測(cè)定儀廠家升級(jí)后增加如下功能：配置定位角，配置水平儀裝置，減少外部環(huán)境對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響；配置高...

支撐劑體積密度測(cè)試儀滿足標(biāo)準(zhǔn)：根據(jù)國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)API RP60、Q/SY 124-2007和SY/T 5108-2006壓裂支撐劑性能指標(biāo)及測(cè)試推薦方法及QSY 1...

FT-102B自動(dòng)金屬粉末流動(dòng)性測(cè)試儀，控制系統(tǒng)自動(dòng)測(cè)試粉末流動(dòng)時(shí)間，以減少傳統(tǒng)的手工堵塞方式帶來的測(cè)試誤差和秒表計(jì)時(shí)誤差，從而讓測(cè)試結(jié)果更加接近產(chǎn)品本身的實(shí)際...

絕緣材料體積電阻率測(cè)試儀，測(cè)量橡膠、塑膠、粉末、顆粒物、電子元器件、介質(zhì)材料、電線電纜、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計(jì)算機(jī)房防靜電活動(dòng)地板等電阻值等絕緣性能...

顆粒休止角測(cè)定儀，休止角是指粉體堆積層的自由斜面在靜止的平衡狀態(tài)下，與水平面所形成的Z大角：休止角常用的方法是固定圓錐法（亦稱殘留圓錐法）。固定圓錐法將粉體注入...

FT-6300篩分粒度儀，廣泛應(yīng)用于實(shí)驗(yàn)室、質(zhì)檢室等檢驗(yàn)部門進(jìn)行顆粒、粉類物料粒度分布測(cè)定，產(chǎn)品雜質(zhì)含量，液體固形物含量的測(cè)定分析。產(chǎn)品結(jié)構(gòu)緊湊、噪音低、效率高...

電壓降測(cè)試儀，該儀器適用于測(cè)量開關(guān)觸點(diǎn)、繼電器、開關(guān)、線材線束、壓接線端子、連接器等相關(guān)產(chǎn)品之壓降測(cè)試本儀器有可調(diào)的大電流輸出,微電壓測(cè)試,數(shù)碼管顯示。也適用于...

FT-340系列雙電測(cè)四探針電阻率/方阻測(cè)試儀本儀器本儀器采用四探針雙電測(cè)量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種...

方塊電阻測(cè)試儀操作手冊(cè)GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》

雙電測(cè)四探針電阻率測(cè)試儀，EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率導(dǎo)電性油漆，導(dǎo)電性糊狀物，導(dǎo)電性塑料，導(dǎo)電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜， EMI 防護(hù)材料，導(dǎo)電性纖...

線束電壓降測(cè)試儀，本系統(tǒng)電壓降和接觸電阻是車用電線束插接器在強(qiáng)電流電路和弱電流電路下電性能評(píng)定指標(biāo)；在恒定電流狀態(tài)下，通過測(cè)試導(dǎo)線壓接和端子接觸區(qū)域的電壓降，還...

高溫表面和體積電阻率測(cè)試儀概述：由測(cè)試電阻率系統(tǒng)與高溫試驗(yàn)箱結(jié)合配置的高溫測(cè)試探針治具，滿足絕緣材料在高溫狀態(tài)下，因溫度變化對(duì)電阻值變化之表面和體積電阻率測(cè)量要...

高溫四探針測(cè)試儀現(xiàn)貨，采用由四探針雙電測(cè)量方法測(cè)試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫試驗(yàn)箱結(jié)合配置的高溫測(cè)試探針治具，滿足半導(dǎo)體材料因溫度變化對(duì)電阻值變化的測(cè)量要求，通過良...

四點(diǎn)探針測(cè)試儀，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具

四探針方阻測(cè)試儀廠家，配置232電腦接口及USB兩種接口，本機(jī)結(jié)合采用范德堡測(cè)量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影...

導(dǎo)體材料高溫電阻率測(cè)試儀概述：采用由四端測(cè)量方法測(cè)試電阻率系統(tǒng)與高溫試驗(yàn)箱結(jié)合配置的高溫測(cè)試探針治具，滿足半導(dǎo)體及導(dǎo)體材料因溫度變化對(duì)電阻值變化的測(cè)量要求，通過...

高溫四探針電阻率測(cè)試儀通過良好的測(cè)控軟件可以顯示出溫度與電阻，電阻率，電導(dǎo)率數(shù)據(jù)的變化曲線，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。

四探針方阻儀廣泛用于：覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電（屏蔽）布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆...