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產(chǎn)品分類(lèi)品牌分類(lèi)
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先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線(xiàn)擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng)
評(píng)估絕緣材料的劣化程度和離子遷移現(xiàn)象
評(píng)估絕緣材料劣化程度離子遷移評(píng)估系統(tǒng)產(chǎn)品介紹：
離子遷移是指電路板上的金屬如銅、銀、錫等在一定條件下發(fā)生離子化并在電場(chǎng)作用下通過(guò)絕緣層向另一極遷移而導(dǎo)致絕緣性能下降。絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng)是一種信賴(lài)性試驗(yàn)設(shè)備。它通過(guò)在印刷電路板上施加固定的直流電壓，并經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試（1~1000小時(shí)可按需定制），觀(guān)察線(xiàn)路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生，并記錄電阻值的變化狀況，從而評(píng)估絕緣材料的劣化程度和離子遷移現(xiàn)象的影響。
評(píng)估絕緣材料劣化程度離子遷移評(píng)估系統(tǒng)應(yīng)用領(lǐng)域：
封裝材料：助焊劑、印刷電路板、光刻膠、釬料、樹(shù)脂、導(dǎo)電膠等有關(guān)印刷電路板、高密度封裝的材料；
電子材料：印BGA、CSP等精細(xì)節(jié)距IC封裝件；
有機(jī)半導(dǎo)體：PPV、NDI、OFETs、OSCs、OLEDs等；
電子元器件：電容、連接器等其他電子元器件及材料；
絕緣材料：各種絕緣材料的吸濕性特性評(píng)估。
技術(shù)參數(shù)：
測(cè)量電壓：100~1500V（可定制）
測(cè)試通道：128通道（可定制至高960通道）
測(cè)試時(shí)長(zhǎng)：可連續(xù)運(yùn)行1500小時(shí)
測(cè)試溫度：85℃（可定制）
測(cè)試濕度：85%（可定制）
測(cè)量范圍：1×105~1×1015Ω
極化電壓：100~1500V（可定制）
掃描周期：最快2分鐘（128通道）
恒溫試驗(yàn)箱
型號(hào)：HC-80 溫度范圍：RT ~ +100℃ 內(nèi)部容積（L）：80
型號(hào)：HC-512 溫度范圍：RT ~ +200℃ 內(nèi)部容積（L）：512
迷你高低溫環(huán)境箱
型號(hào)：HC-35 溫度范圍：-40 ~ +100℃ 內(nèi)部容積（L）：35
型號(hào)：HC-70 溫度范圍：-70 ~ +200℃ 內(nèi)部容積（L）：70
