產(chǎn)品分類品牌分類
-
先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
高溫低電阻測(cè)試儀
高溫 高電阻 高精度
一、高溫低電阻測(cè)試儀簡(jiǎn)介
HGTZ-900高溫低電阻測(cè)試儀器采用四端測(cè)量方法在高溫環(huán)境下對(duì)導(dǎo)電及半導(dǎo)電材料的電阻進(jìn)行評(píng)估,適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料在高溫、真空及氣氛條件下測(cè)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示,無需人工計(jì)算,并帶有溫度補(bǔ)償功能。采用高精度 芯片控 AD制,恒流輸出,結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便,配備 英寸觸摸屏, 10軟件可保存和打印數(shù)據(jù),自動(dòng)生成報(bào)表;本儀器可顯示電阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu)。
目前國(guó)內(nèi)高溫加熱大都為管式爐或馬弗爐,原理為加熱絲或硅碳棒對(duì)爐體加熱,加熱與降溫速度慢,效率低下,這種方式也易存在感應(yīng)電流,無法實(shí)現(xiàn)溫度的高精度測(cè)量,也加熱區(qū)域也存在不均勻的現(xiàn)象,本設(shè)備在高速加熱高速冷卻時(shí),具有良好的溫度分布。 可實(shí)現(xiàn)寬域均熱區(qū),高速加熱、高速冷卻 ,用石英管保護(hù)加熱式樣,無氣氛污染。可在高真空,高出純度氣體中加熱 。大大提高精確度,也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途.
HGTZ-800 Labview hcpro 系統(tǒng)搭配 系統(tǒng)開發(fā)的 軟件,具備彈性的自定義功能,可進(jìn)行電壓、電流、溫度、時(shí)間等設(shè)置,符合導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料與其它新材料測(cè)試多樣化的需求。
華測(cè)公司為國(guó)內(nèi)一家針對(duì)新材料電性能檢測(cè)儀器全系列廠家。
高溫低電阻測(cè)試儀可實(shí)現(xiàn)高溫下的勻速、階梯、降溫下的全溫度范圍的測(cè)試。
高溫低電阻測(cè)試儀可實(shí)現(xiàn)小于±0 .25 ℃溫 度測(cè)量誤差(限反射爐)。
二、高溫低電阻測(cè)試儀優(yōu)勢(shì)
1、整體為桌面型設(shè)計(jì),采用紅外燈加熱,無保溫爐膛結(jié)構(gòu),滿足實(shí)驗(yàn)室無灰塵排放的要求。
2、內(nèi)置工控機(jī)、觸摸屏,可以利用工控機(jī)設(shè)定加熱曲線,并實(shí)現(xiàn)和其他測(cè)試設(shè)備的集成控制。
3、定點(diǎn)控溫模式下,可以將樣品 1 0s內(nèi)加熱到 1000攝氏度。
4、控溫加熱下,可以5度/s 速率下線性加熱到1000 攝氏度。
5、在1000度下可以連續(xù)工作時(shí)間不低于1 小時(shí)。
6、采用鉑銠熱電偶直接測(cè)定樣品附近溫度。
7、樣品可以工作在大氣、真空、氣氛環(huán)境下加熱。
8、配備真空泵,水冷設(shè)備,配備超溫、缺水、過流等報(bào)警保護(hù)裝置。
9、溫度均勻區(qū):60 m m *1 0 0m m。
10、公司開發(fā)的高溫低電阻測(cè)試系統(tǒng)軟件將高溫測(cè)試平臺(tái)、高溫測(cè)試夾具與keithley(吉時(shí)利)系列、2400、 2450、 2600 系列源表測(cè)量設(shè)備無縫連接。
三、硬件配置:
█ 集成Intel@Celeron 1037U 1.8GHZ 雙核處理器
█ 集成打機(jī)印接口,最大可擴(kuò)充8 個(gè) USB 接口
█ 最大支持16G 內(nèi)存, 60G固態(tài)硬盤,讓系統(tǒng)運(yùn)行更加流暢
軟件功能:
測(cè)試系統(tǒng)的軟件平臺(tái)Huacepro labview ,采用labview 系統(tǒng)開發(fā),符合絕緣材料的各項(xiàng)測(cè)試需求,具備強(qiáng)大的穩(wěn)定性與操作安全性,并具備斷電資料的保存功能,圖像資料也可保存恢復(fù)。支持最新的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn),兼容XP 、win7 、 win10系統(tǒng)。
█ 多語介面:支持中文/英文 兩種語言界面;
█ 即時(shí)監(jiān)控:系統(tǒng)測(cè)試狀態(tài)即時(shí)瀏覽,無須等待;
█ 圖例管理:通過軟件中的狀態(tài)圖示,一目了然,立即對(duì)狀態(tài)說明,了解測(cè)試狀態(tài);
█ 使用權(quán)限:可設(shè)定使用者的權(quán)限,方便管理;
█ 故障狀態(tài):軟件具有設(shè)備的故障報(bào)警功能。
產(chǎn)品特點(diǎn):
1、高速加熱與冷卻方式
高能量的紅外燈和鍍金反射方式允許高速加熱到高溫。同時(shí)爐體可配置水冷系統(tǒng),增設(shè)氣體冷卻裝置,可實(shí)現(xiàn)快速冷卻。
2、溫度高精度控制
過紅外鍍金聚焦?fàn)t和溫度控制器的組合使用,可以精確控制樣品的溫度(遠(yuǎn)比普通加溫方式)。此外,冷卻速度和保持在任何溫度下可提供高精度。
3、不同環(huán)境下的加熱與冷卻
加熱/冷卻可用真空、氣氛環(huán)境、低溫(高純度惰性氣體,靜態(tài)或流動(dòng)),操作簡(jiǎn)單,使用石英玻璃制成。紅外線 可傳送到加熱/冷卻室。
四、產(chǎn)品應(yīng)用:
█ 多晶硅材料
█ 石墨功能材料
█ 導(dǎo)電功能薄膜材料
█ 導(dǎo) 電玻璃(ito )材料
█ 石墨烯材料
█ 半導(dǎo)體材料
█ 鍺類功能材料
█ 柔性透明 導(dǎo)電薄膜
█ 其它導(dǎo)電材料等
功能特點(diǎn):
█ 多功能真空加熱爐,一體爐膛設(shè)計(jì)、可實(shí)現(xiàn)、高溫、真 空、氣氛環(huán)境下進(jìn)行測(cè)試
█ 采用鉑材料作為導(dǎo)線、以減少信號(hào)衰減、提高測(cè)試精度;
█ 可以測(cè)量半導(dǎo)體薄膜材、薄片材料的電阻、電阻率;
█ 可實(shí)現(xiàn)常溫、變溫、恒溫條件的I-V、R-T等測(cè)量功能;
█ 進(jìn)口溫度傳感器、PID自動(dòng)溫度控制,使測(cè)量溫度更精準(zhǔn);
█ 儀器可自動(dòng)計(jì)算試樣的電阻率pv;
█ 10寸進(jìn)口觸摸屏設(shè)計(jì),一體化設(shè)計(jì)機(jī)械結(jié)構(gòu),更加穩(wěn)定、可靠;
█ 程控電子升壓技術(shù),紋波更低、TVS防護(hù)系統(tǒng),保證儀器安全性;
█ 99氧化鋁陶瓷絕緣、碳化鎢探針;
█ huace pro 強(qiáng)大的控制分析軟件。
技術(shù)參數(shù):
1、溫度范圍:室溫-1000℃, (反射爐加溫 )配水冷機(jī);
2、控溫精度:(溫控國(guó)內(nèi)最高) ±0 5℃ ;
3、測(cè)量精度: ± 0.25℃;
4、升溫斜率:20℃/min (可設(shè)定);
5、降溫斜率: 1-200℃/min ( 自調(diào)整);
6、測(cè)量精度:0.5%;
7、樣品規(guī)格:直徑: 20mm 以內(nèi);厚度: 5mm以內(nèi);
8、電極材料:鉑金;
9、測(cè)量方式:2 線- 4線測(cè)量方式;
10、測(cè)量范圍: 0.1uΩ- 100MΩ
11、供 電:220V±10%,50Hz;
12、工作環(huán)境:0℃ - 55℃;
13、存儲(chǔ)條件:- 40℃-70℃;
14、尺 寸:750mmX660mmX360mm;
15、重 量: kg 25
產(chǎn)品型號(hào) | 溫度范圍 | 設(shè)備功能 |
HGTZ-901 | 室溫-800C° | 單組試樣;片狀樣品;四探針法;薄膜或薄片狀樣品;真空、氣氛環(huán)境 |
HGTZ-902 | 室溫-1200C° | 單組試樣;片狀樣品;四探針法;薄膜或薄片狀樣品;真空、氣氛環(huán)境 |
HGTZ-903 | 室溫-1450C° | 單組試樣;片狀樣品;四探針法;薄膜或薄片狀樣品;真空、氣氛環(huán)境 |
高溫低電阻測(cè)試儀 可以應(yīng)用于導(dǎo)電功能薄膜材料
高溫低電阻測(cè)試儀 可以應(yīng)用于導(dǎo)電功能薄膜材料