HCRD-300電池隔膜電弱點(diǎn)測測試儀
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高溫介電測量系統(tǒng)簡介:
可以在高溫、寬頻條件下測量固體樣品的介電;可以測量樣品的介電常數(shù)、介電損耗,電容C,損耗D,電感L,因數(shù)Q,阻抗Z等物理量;可以實(shí)現(xiàn)頻率譜、溫度譜、偏壓譜、阻抗譜、介電譜、時間譜等測量功能;可以實(shí)現(xiàn)介電常數(shù)和介電損耗隨多個溫度、多個頻率變化、時間和電壓變化的曲線等等。
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