該儀器適用于光化學(xué)、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。
產(chǎn)品規(guī)格：
* 波長(zhǎng)范圍及峰值波長(zhǎng)：
探頭：（光譜響應(yīng)曲線見(jiàn)圖）
     λ：(320～400)nm；λP＝365nm
探頭：（光譜響應(yīng)曲線見(jiàn)圖）
     λ：(375～475)nm；λP＝420nm
輻照度測(cè)量范圍：(0.1～199.9×103)μW/cm2
紫外帶外區(qū)雜光：小于0.02％
準(zhǔn)確度：±10％
角度響應(yīng)特性：，，二，光照度計(jì)標(biāo)準(zhǔn)
響應(yīng)時(shí)間：1秒
環(huán)境溫度：(0～40)℃
環(huán)境濕度：＜85％RH
尺    寸：180mm×80mm×36mm；
重    量：0.2kg
電    源：9V積層電池一只