當前位置:蘇州維菱電子科技有限公司> 供求商機> 6W-折射儀 上海光學 光學阿貝折射儀 6W 比長儀
品 牌:上海光學 名 稱:阿貝比長儀 型 號:6W 產品詳細介紹: 一、 儀器用途 阿貝比較儀是基于阿貝原理而設計的高精度長度計量儀器。該儀器主要用于測量二線之間的距離及平面上兩點之間的距離:如對200mm以下短標尺的檢定;對光譜圖形及光學儀器中的分劃板的精密測量等等。并可作為攝譜儀的成套附件。 二、 技術規(guī)格 測量范圍: 200mm 標尺分度: 1mm 讀數(shù)顯微鏡分度值: 0.001mm 讀數(shù)顯微鏡放大倍數(shù): 50X 對線顯微鏡放大倍數(shù): 30X 對線工作距離: 50mm 儀器測量誤差: 公式中:L—被測件測量長度,單位:mm 儀器體積: 620X300X400mm 儀器重量: 40kg |
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