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用戶(hù)可以根據(jù)測(cè)量的需要選用不同的涂層測(cè)厚儀，磁性測(cè)厚儀和渦流測(cè)厚儀一般測(cè)量的厚度適用0-5毫米，這類(lèi)儀器又分探頭與主機(jī)一體型，探頭與主機(jī)分離型，前者操作便捷，后者適用于測(cè)非平面的外形。更厚的致密材質(zhì)材料要用超聲波測(cè)厚儀來(lái)測(cè)，測(cè)量的厚度可以達(dá)到0.7-250毫米。電解法測(cè)厚儀適合測(cè)量很細(xì)的線(xiàn)上面電鍍的金，銀等金屬的厚度。
儀器由德國(guó)生產(chǎn)，集合了磁性測(cè)厚儀和渦流測(cè)厚儀兩種儀器的功能，可用于測(cè)量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度。如：
儀器符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4956和GB/T4957，可用于生產(chǎn)檢驗(yàn)、驗(yàn)收檢驗(yàn)及質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)。
對(duì)材料表面保護(hù)、裝飾形成的覆蓋層，如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等，在有關(guān)國(guó)家和標(biāo)準(zhǔn)中稱(chēng)為覆層（coating）。
覆層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要一環(huán)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的*手段。為使產(chǎn)品化，我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中，對(duì)覆層厚度有了明確的要求。
覆層厚度的測(cè)量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測(cè)量法，稱(chēng)重法，X射線(xiàn)熒光法，β射線(xiàn)反向散射法，電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等。這些方法中前五種是有損檢測(cè)，測(cè)量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。
X射線(xiàn)和β射線(xiàn)法是無(wú)接觸無(wú)損測(cè)量，但裝置復(fù)雜昂貴，測(cè)量范圍較小。因有放射源，使用者必須遵守射線(xiàn)防護(hù)規(guī)范。X射線(xiàn)法可測(cè)極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線(xiàn)法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測(cè)厚時(shí)采用。
隨著技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來(lái)引入微機(jī)技術(shù)后，采用磁性法和渦流法的測(cè)厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實(shí)用化的方向進(jìn)了一步。測(cè)量的分辨率已達(dá)0.1微米，精度可達(dá)到1%，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡(jiǎn)便且價(jià)廉，是工業(yè)和科研使用zui廣泛的測(cè)厚儀器。
采用無(wú)損方法既不破壞覆層也不破壞基材，檢測(cè)速度快，能使大量的檢測(cè)工作經(jīng)濟(jì)地進(jìn)行。
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