掃描探針顯微鏡（SPM）是在樣品表面用微小的探針進(jìn)行掃描，通過高倍率觀察三維形貌和局部物理特性的顯微鏡總稱。懸臂和樣品始終保持接觸，控制懸臂與樣品之間的相互作用保持一定狀態(tài)下，掃描樣品表面的模式。這是Z典型的AFM模式，可以得到目前Z高分辨率圖像。懸臂在諧振頻率附近震動。在懸臂震動的狀態(tài)下懸臂接近樣品時振幅會發(fā)生變化。

SPM-9700  掃描探針顯微鏡   日本島津

探知未來

掃描探針顯微鏡(SPM)是在樣品表面用微小的探針進(jìn)行掃描，通過高倍率觀察三維形貌和局部物理特性的顯微鏡總稱。SPM-9700更是性能高、速度快、操作簡單的新一代。

 

 

 

主要技術(shù)指標(biāo):