微區(qū)掃描電化學(xué)工作站快速精準(zhǔn)的閉環(huán)定位系統(tǒng)為電化學(xué)掃描探針納米級研究的需求而特別設(shè)計。結(jié)合Uniscan *的混合型32-bit DAC技術(shù)，用戶可以選擇合適實(shí)驗(yàn)研究的Z佳配置
掃描電化學(xué)顯微系統(tǒng)（SECM）
交流掃描電化學(xué)顯微鏡系統(tǒng)（ac-SECM）
間歇接觸掃描電化學(xué)顯微鏡系統(tǒng)（ic-SECM）
微區(qū)電化學(xué)阻抗測試系統(tǒng)(LEIS)
掃描振動點(diǎn)擊測試系統(tǒng)（SVET）
電解液微滴掃描系統(tǒng)（SDS）
交流電解液微滴掃描系統(tǒng)（ac-SDS）
掃描開爾文探針測試系統(tǒng)（SKP）
非觸式微區(qū)形貌測試系統(tǒng)（OSP）
出色的性能
快速精準(zhǔn)的閉環(huán)定位系統(tǒng)為電化學(xué)掃描探針納米級研究的需求而特別設(shè)計。結(jié)合Uniscan *的混合型32-bit DAC技術(shù)，用戶可以選擇合適實(shí)驗(yàn)研究的*配置
優(yōu)良和靈活的工作平臺
系統(tǒng)可提供9種探針技術(shù)，使得M470成為zui靈活的電化學(xué)掃描灘鎮(zhèn)工作平臺。
全面的附件
7種模塊可選，3種不同電解池，各式探針，長距顯微鏡以及后處理數(shù)據(jù)分析軟件。
M470新產(chǎn)品特征
SECM自動處理曲線
SECM用戶自定義處理曲線步長變化
高分辨率讀取
手動或自動調(diào)節(jié)相位
M470同時具備如下特點(diǎn)：
傾斜校正
X或Y曲線相減（5階多項(xiàng)式）
2D或3D快速傅里葉變化
實(shí)驗(yàn)，探針移動和區(qū)域繪圖的自動排序
圖形實(shí)驗(yàn)測序引擎（GESE）
支持多區(qū)域掃描
所有實(shí)驗(yàn)多個數(shù)據(jù)視圖
峰值分析
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