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當前位置：南京互川電子有限公司>>無損檢測器材>>滲透試塊>> 美國磁通TAM五點試塊（五點試片）

五點試塊（五點試片）

參  考  價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號美國磁通TAM

品       牌

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地南京市

更新時間：2024-04-15 11:35:02瀏覽次數(shù)：5173次

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sherwin五點試片,用來檢驗滲透劑的靈敏度和操作工藝準確性驗證的手段，同時，該試塊帶有噴砂區(qū)的毛糙面，用來檢驗滲透劑的清洗性能和清洗方法的準確性進行驗證。它的靈敏度以顯示缺陷的點數(shù)和每一個點和每一個點的徑域直徑大小判斷。

美國磁通TAM五點試片是滲透檢測試塊，為4英寸X6英寸的不銹鋼試片。

sherwin五點試片,用來檢驗滲透劑的靈敏度和操作工藝準確性驗證的手段，同時，該試塊帶有噴砂區(qū)的毛糙面，用來檢驗滲透劑的清洗性能和清洗方法的準確性進行驗證。它的靈敏度以顯示缺陷的點數(shù)和每一個點和每一個點的徑域直徑大小判斷。

 

 

 

 

 

關(guān)鍵詞：五點試片，五點試塊，不銹鋼試片

 

TAM試片
4英寸×6英寸的不銹鋼試片，可同時檢測滲透工藝的靈敏度和水洗性。
該試片一面為粗糙面，用于檢測水洗性，另一面為5個星型缺陷的鍍鉻拋光區(qū)。星型缺陷從粗大到極細小順序排列，用于檢測靈敏度。
Pratt和Whitney TAM


件號：198055

 

配件號：146040

 

美國磁通TAM試片

美國磁通TAM試片是滲透檢測試塊，為4英寸X6英寸的不銹鋼試片，可同時檢測滲透工藝的靈敏度和水洗性。
美國磁通TAM試片一邊為粗糙表面用于檢測水洗性，另一邊為含有5個星型缺陷的鍍鉻拋光區(qū)，星型缺陷從粗大到極細小順序排列，用于檢測靈敏度。
美國磁通TAM試片符合GJB2367A和ASTM E 1417等國外主要工業(yè)標準要求。

 

 

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