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三泉中石

　　元件和器件統(tǒng)一被稱為電子元器件，總所周知電子元器件的精度高，不能受外界環(huán)境的影響。為此檢測電子元器件密封性測試成為生產(chǎn)廠家關注的重點。

<strong>電子元器件密封性測試儀</strong>

電子元器件密封性測試儀

　　GB/T 15171—94 《軟包裝件密封性能試驗方法》國家標準中介紹了關于元器件包裝密封性檢測方法，濟南三泉中石實驗儀器有限公司的，正好滿足該標準的檢測要求。

　　測試原理：使浸在真空室水中的試樣產(chǎn)生內(nèi)外壓差，觀測試樣內(nèi)氣體外逸情況，以此判定試樣的密封性能；下面簡單介紹下元器件密封性實驗方法：

　　試樣準備

　　1 ）準備足夠數(shù)量的元器試樣，試樣應完整，無破損或列痕。

　　2 ）將負壓桶內(nèi)裝入高于內(nèi)蓋（帶孔蓋）10mm的水；

　　3 ）將氣源連接<壓縮空氣>接口，負壓桶連接<真空輸出>接口；

　　電子元器件密封性測試方法

　　1、正確連接壓縮空氣和真空輸出的管路，將負壓桶內(nèi)裝入高于網(wǎng)盤1-3cm的水，等待試驗。

　　2、接通氣源，調(diào)節(jié)調(diào)壓閥，使進氣壓力保持在0.6-0.8Mpa之間，以保證試驗穩(wěn)定性。

　　3、接通電源，打開右后側(cè)開關，設備通電，此時保壓時間和真空度表顯示。

　　4、分別調(diào)整真空度和保壓時間。

　　5、設定完成后，將密封好的試樣用網(wǎng)盤壓在水下，蓋好桶蓋。

　　6、按下啟動按鈕，儀器自動開始試驗，負壓表達到設定值時，計時器開始計時，到達保壓時間后，儀器自動泄壓，試驗完成。

　　7、保壓過程中觀察桶內(nèi)試樣的密封性能，做出判斷。

　　電子元器件使用范圍廣泛，在工業(yè)生產(chǎn)中具有不可替代的價值，就拿我們的來說上面有幾十種不同類型的電子元器件。

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