高低溫試驗(yàn)箱測(cè)試要求
低溫(低溫試驗(yàn)箱)試驗(yàn)?zāi)芰︱?yàn)證方法依據(jù)GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:低溫(等同采用IEC:60068-2-1:Environmental testing:Part2-1:Tests-Tests A:Clod)。
高溫(高溫試驗(yàn)箱)試驗(yàn)?zāi)芰︱?yàn)證方法依據(jù)GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫(等同采用IEC:60068-2-2:2:2007 Environmental testing:Part2-2:Tests-Tests B:Dry heat)。
受試驗(yàn)的樣品放置于試驗(yàn)箱內(nèi),接通電源按要求進(jìn)行相關(guān)測(cè)試記錄實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)完成試驗(yàn)。
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