ZX-3/ 5/5DL測厚儀
ZX-3/5/5/DL 采用聲反射技術(shù)可以用單面測量法快速、準(zhǔn)確地測量物體的壁厚，比傳統(tǒng)的游標(biāo)卡尺等壁厚測量方式快捷方便，適用

特點(diǎn)：

測量鋼、鑄鐵、塑料、玻璃、鋁、銅等材料的厚度

120MHz FPGA采樣率，150V方波脈沖發(fā)生器

增益可調(diào)節(jié)（40-52dB）

增益步進(jìn)間距3dB（vlow, low, med, high, vhi 五檔）

手動(dòng)或自動(dòng)調(diào)零

低溫型（-30℃）LCD顯示屏

USB-C型通訊接口：輸出數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)（僅ZX-5/5DL)

USB轉(zhuǎn)串口功能，可選RS232或藍(lán)牙模塊（僅ZX-5）

掃查測量：自動(dòng)找出被測材料掃查區(qū)域內(nèi)的 薄值

參數(shù)：

• 測量范圍

  0.63～914.4mm (鋼，取決于探頭)

  顯示單位

  mm/IN

  顯示精度

  0.01mm/0.001IN

  聲速范圍

  305～18542m/s

  探頭頻率

  1MHz～10MHz（LEMO接口）

  調(diào)零

  手動(dòng)或自動(dòng)調(diào)零

  探頭直徑

  可選探頭直徑來提高線性

  增益

  40-52dB（步進(jìn)間距3dB）

  屏幕

  大屏幕多功能低溫型LCD顯示屏

  背景燈

  關(guān)閉/常開/自動(dòng)三種工作模式，亮度有低/中/高三檔可調(diào)

  脈沖重復(fù)頻率

  200Hz

  顯示刷新率

  10Hz

  掃描方式

  每秒測量100個(gè)點(diǎn)，可以捕捉到掃描過程中的薄厚度

  差值模式

  顯示測量值與預(yù)先設(shè)定值的差值。（僅ZX-5/5DL）

  報(bào)警功能

  如果測量值小于用戶輸入小允許值/高于用戶輸入的允許值，紅燈亮并有BB的報(bào)警聲提示，綠燈亮表示測量在允許范圍內(nèi)。（僅ZX-5/5DL）

  VX聲速模式

  可以測量材料的聲速值（僅ZX-5/5DL）

  電源

  2節(jié)5號(hào)電池，連續(xù)使用時(shí)間可達(dá)45小時(shí)（電池種類的不同使用時(shí)間會(huì)有變化）。當(dāng)電池供電不足時(shí)，顯示器會(huì)顯示低電量標(biāo)志。自動(dòng)關(guān)機(jī)功能（5分鐘無任何操作后會(huì)自動(dòng)關(guān)機(jī)）。USB接口供電功能（僅ZX-5/5DL）

  數(shù)據(jù)存儲(chǔ)

  內(nèi)置32M的存儲(chǔ)卡可存儲(chǔ)10000個(gè)測量數(shù)據(jù)（分成40個(gè)存儲(chǔ)文件，每個(gè)存儲(chǔ)文件可存250個(gè)數(shù)據(jù)）（僅ZX-5DL）。存儲(chǔ)文件格式為通用的.csv格式，不需要的數(shù)據(jù)通訊軟件。

  鍵盤

  9鍵防水、防油鍵盤

  操作溫度

  -30℃～75℃

  尺寸

  63.5x131.3x31.5mm（擠壓鋁制外殼，底蓋為鋁板鍍鎳，堅(jiān)固）

  重量

  312g

  包裝

  ABS工程塑料箱

  適用標(biāo)準(zhǔn)

  NIST & MIL-STD-4562A



常用探頭：


型號(hào)	頻率	晶片直徑	測量范圍（鋼）	說明
PT-102-2000	5.0MHz	φ6.3mm	1.0～152mm	標(biāo)準(zhǔn)探頭
PT-101-2000	5.0MHz	φ4.7mm	1.5～50mm	小管徑探頭
PT-104-0000	1.0MHz	φ12.7mm	3.8～50.8mm(鑄鐵中)	鑄鐵探頭
PT-102-1000	2.25MHz	φ6.3mm	1.5～100mm	低頻探頭
PT-102-3300	7.5MHz	φ6.3mm	0.63～152mm	薄探頭
PT-104-2000	5.0MHz	φ12.7mm	1.27～500mm	厚探頭
PT-042-2000	5.0MHz	φ6.3mm	1.0～152mm	高溫探頭，℃
PT-044-2000	5.0MHz	φ12.7mm	1.27～500mm	高溫探頭，340℃
PT-212-2001	5.0MHz	φ6.3mm	1.0～150mm	高溫探頭，482℃
PT-214-2001	5.0MHz	φ12.7.3mm	1.27～500mm	高溫探頭，482℃

注：用高溫探頭測量高溫表面時(shí)必需用配套的高溫耦合劑。