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粒度分析儀器具有許多特點(diǎn),了解下

閱讀:2555      發(fā)布時(shí)間:2019-5-27
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   粒度分析儀器的使用過(guò)程中,對(duì)于使用者來(lái)說(shuō),如何選取儀器的遮光比對(duì)于提升儀器度是很有影響的,所謂的遮光比就是在使用粒度分析儀器測(cè)試樣品時(shí),配置的樣品懸浮液的濃度,遮光比的正確選擇是粒度分析儀器在粒度測(cè)試過(guò)程中的重要的步驟,遮光比是否合適或者說(shuō)被測(cè)樣品的濃度是否合適嚴(yán)重關(guān)系到粒度測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性和代表性。
 
  粒度分析儀器的測(cè)量原理要求在測(cè)試過(guò)程中,樣品的濃度以樣品中顆粒之間相互不發(fā)生二次散射為原則,理論上就是要求懸浮液或者空氣中顆粒之間的距離為顆粒直徑的3倍,但是這個(gè)要求非常難以掌握,因此在實(shí)際的粒度測(cè)試中,通過(guò)調(diào)整遮光比的數(shù)值來(lái)盡量保證顆粒之間不發(fā)生二次散射。遮光比不宜過(guò)大(超過(guò)50%)或者過(guò)小(低于5%),遮光比過(guò)大時(shí),顆粒的濃度過(guò)高,容易發(fā)生二次散射,測(cè)量結(jié)果誤差增大;遮光比過(guò)低,樣品中顆粒的濃度太低,顆粒數(shù)太少,測(cè)試結(jié)果的代表性很差,甚至可能導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果是無(wú)效的,因此在測(cè)試過(guò)程中,對(duì)遮光比的選取要通過(guò)反復(fù)試驗(yàn),以得到正確的測(cè)量結(jié)果。
 
  粒度分析儀器是近年來(lái)興起的一種新型粒度檢測(cè)設(shè)備,它具有實(shí)時(shí)檢測(cè)特性使其擁有廣泛的應(yīng)用范圍。隨著噴嘴測(cè)試技術(shù)的發(fā)展,粒度分析儀器在噴霧實(shí)驗(yàn)中的應(yīng)用也越來(lái)越廣泛地受到重視。粒度分析儀器的光路實(shí)際是一個(gè)葉變換器,因此具有許多特點(diǎn):
 
  1、所有顆粒的散射信息是以光速并行傳輸?shù)竭_(dá)光電探測(cè)器的,因此速度快;
 
  2、探測(cè)器可以做的非常窄大約幾個(gè)微米,因此分辨率非常高;
 
  3、測(cè)試過(guò)程顆粒散射不會(huì)受到人為因素的干擾,因此測(cè)試重復(fù)性超群;
 
  4、根據(jù)傅立葉變換的平移不變性,顆粒在樣品池中的運(yùn)動(dòng)速度不會(huì)影響頻譜分布,因此適用于動(dòng)態(tài)顆粒的測(cè)試,這是其他粒度測(cè)試方法所*的,這成為了顆粒在線測(cè)試?yán)碚撘罁?jù)。
 

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