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　　波長X熒光硫含量分析儀是現(xiàn)代化學檢驗中應用普遍的檢測技術，具有操作方便、準確等特點，主要由光源、原子化系統(tǒng)、分光系統(tǒng)及檢測系統(tǒng)四個主要部分組成。從光源輻射出具有待測元素特征譜線的光，通過試樣蒸氣時被蒸氣中待測元素基態(tài)原子所吸收，由輻射特征譜線光被減弱的程度來測定試樣中待測元素的含量。

 

　　波長X熒光硫含量分析儀測定的是分子光譜，分子光譜屬于帶狀光譜，具有較大的半寬度，使用普通的棱鏡或光柵就可以達到要求，而且使用連續(xù)光源還可以進行光譜全掃描，可以用同一個光源對多種化合物進行測定。

 

　　今天咱們來聊一聊波長X熒光硫含量分析儀的校正曲線為何會發(fā)生彎曲現(xiàn)象：

 

　　光吸收的簡式A=KC，只適用于理想狀態(tài)均勻稀薄的蒸汽原子，隨著吸收層中原子濃度的增加，上述簡化關系就不應用了。

 

　　在高濃度下，分子不成比例地分解；相對于穩(wěn)定的原子溫度，較高濃度下給出的自由原子比率較低。

 

　　1、由于有不被吸收的輻射、雜散光的存在，不可能全部光被吸收到同一程度來保持曲線線性。

 

　　2、由于光源的老化或使用高的燈電流引起的空心燈譜線擴寬和產(chǎn)生自吸。

 

　　3、由于單色器狹縫太寬，則傳送到檢測器去的譜線不可能只有一條，校正曲線表現(xiàn)出更大的彎曲。

 

　　4、樣品中元素的電離電位不同，在火焰中發(fā)生電離時，不同元素的基態(tài)原子數(shù)不同。濃度低時，電離度大，吸光度下降多;濃度增高，電離度逐漸減小，吸光度下降程度也逐漸減小，所以引起標準工作曲線向濃度軸彎曲(下部彎曲)。