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詳細(xì)介紹
38DL PLUS測(cè)厚儀
38DL PLUS測(cè)厚儀
概述
38DL PLUS-測(cè)厚儀是一款開(kāi)創(chuàng)超聲測(cè)厚技術(shù)新時(shí)代的創(chuàng)新型儀器。這款手持式測(cè)厚儀可完美地適用于幾乎所有超聲測(cè)厚應(yīng)用，而且與所有雙晶和單晶探頭*兼容。功能齊全的38DL PLUS-測(cè)厚儀可用于各種應(yīng)用，包括使用雙晶探頭對(duì)內(nèi)壁腐蝕的管件進(jìn)行的管壁減薄的測(cè)量，以及使用單晶探頭對(duì)薄壁或多層材料進(jìn)行的極其精-確的壁厚測(cè)量。
38DL PLUS的標(biāo)準(zhǔn)配置帶有很多既強(qiáng)大又易于使用的測(cè)量功能，以及一些于某些特殊應(yīng)用的軟件選項(xiàng)。其密封機(jī)殼的設(shè)計(jì)符合IP67評(píng)級(jí)要求，可以抵御極其潮濕或多沙塵的嚴(yán)酷的環(huán)境條件。彩色透反VGA顯示功能使得測(cè)厚儀顯示屏無(wú)論在明亮的陽(yáng)光下還是在*的黑暗中都能具有極-佳的可視性。測(cè)厚儀的鍵區(qū)既簡(jiǎn)潔又符合人體工程學(xué)的要求。操作人員使用左手或右手即可輕易訪問(wèn)所有功能。
主要特性
可與雙晶和單晶探頭兼容
寬泛的厚度范圍：0.08毫米～635毫米，根據(jù)材料和所選探頭而定
使用雙晶探頭進(jìn)行腐蝕測(cè)厚
穿透涂層和回波到回波測(cè)量功能，用于測(cè)量表面帶有漆層和涂層的材料
內(nèi)部氧化層/沉積物軟件選項(xiàng)
對(duì)于所有探頭，標(biāo)準(zhǔn)分辨率為0.01毫米
使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭，高分辨率軟件選項(xiàng)可進(jìn)行分辨率為0.001毫米的厚度測(cè)量
多層軟件選項(xiàng)可對(duì)多達(dá)4個(gè)不同層同時(shí)進(jìn)行測(cè)量
高穿透軟件選項(xiàng)用于測(cè)量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料
厚度、聲速和渡越時(shí)間測(cè)量
差分模式和縮減率模式
時(shí)基B掃描模式；每次掃查可獲得10000個(gè)可查讀數(shù)
帶有數(shù)字式過(guò)濾器的Olympus高動(dòng)態(tài)增益技術(shù)
用于自定義V聲程補(bǔ)償?shù)腣聲程創(chuàng)建功能
設(shè)計(jì)符合EN15317標(biāo)準(zhǔn)。
測(cè)量功能：穿透涂層、穿透漆層回波到回波、EMAT兼容、小值/大值模式、兩個(gè)報(bào)警模式、差分模式、B掃描、自動(dòng)調(diào)用應(yīng)用、溫度補(bǔ)償、平均值/小值模式
袖珍型，僅重0.814公斤
堅(jiān)固耐用，設(shè)計(jì)符合IP67標(biāo)準(zhǔn)
爆炸性氣氛：通過(guò)了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810F方法511.4程序I中規(guī)定的測(cè)試，可在國(guó)家防火協(xié)會(huì)規(guī)范（NFPA 70）500節(jié)I級(jí)2分段D組中定義的爆炸性氣氛環(huán)境中安全操作
防撞擊測(cè)試：通過(guò)了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810F方法516.5程序I中規(guī)定的測(cè)試，每軸6個(gè)循環(huán)，15 g，11 msec半弦波
防振動(dòng)測(cè)試：通過(guò)了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810F方法514.5程序I附錄C圖6中的測(cè)試，一般暴露：每軸1小時(shí)
帶有支架的橡膠保護(hù)套
彩色透反VGA顯示，帶有室內(nèi)和戶外顏色設(shè)置，具有極-佳的清晰度。
簡(jiǎn)便操作的設(shè)計(jì)理念
可用右手或左手單手操作的簡(jiǎn)潔的鍵區(qū)
可直接訪問(wèn)所有功能的簡(jiǎn)便易行的操作界面
內(nèi)置和外置MicroSD存儲(chǔ)卡
USB和RS-232通訊端口
可存儲(chǔ)475000個(gè)厚度讀數(shù)或20000個(gè)波形的字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器
可連接計(jì)算機(jī)或顯示器的VGA輸出
默認(rèn)或自定義雙晶探頭設(shè)置
默認(rèn)或自定義單晶探頭設(shè)置
密碼保護(hù)功能可以鎖住儀器的功能。
技術(shù)規(guī)格
測(cè)量 | |
雙晶探頭測(cè)量模式 | 從激勵(lì)脈沖后的精-確延時(shí)到一個(gè)回波之間的時(shí)間間隔。 |
穿透涂層測(cè)量模式 | 利用單個(gè)底面回波（使用D7906-SM和D7908探頭），測(cè)量金屬的實(shí)際厚度和涂層厚度。 |
穿透漆層回波到回波測(cè)量模式 | 在兩個(gè)連續(xù)底面回波之間的時(shí)間間隔，不計(jì)漆層或涂層的厚度。 |
單晶探頭測(cè)量模式 | 模式1：激勵(lì)脈沖與一個(gè)底面回波之間的時(shí)間間隔。 |
厚度范圍 | 0.080毫米～635.00毫米，視材料、探頭表面條件、溫度和所選配置而定。 |
材料聲速范圍 | 0.508 mm/μs～13.998 mm/μs |
分辨率（可選擇） | 低分辨率：0.1毫米 |
探頭頻率范圍 | 標(biāo)準(zhǔn)：2.0 MHz～30 MHz（-3 dB） |
標(biāo)準(zhǔn)配置
38DL PLUS數(shù)字式超聲測(cè)厚儀，交流電源或電池供電，50 Hz～60 Hz
標(biāo)準(zhǔn)雙晶探頭套裝盒（可選單晶探頭）
充電器/AC適配器（100 VAC、115 VAC、230 VAC）
內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器
GageView接口程序
試塊和耦合劑
USB線纜
橡膠保護(hù)套，帶有支架和頸掛帶
用戶手冊(cè)
兩年有限擔(dān)保