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冠層分析系統(tǒng)

一、用途：

通過測量作物冠層PAR值提供了關(guān)于影響田間作物生長的限制因素的有價值的信息，如葉面積指數(shù)（LAI）；SunScan探測器也可被用來描繪作物冠層PAR的分布圖。

二、原理：

根據(jù)冠層吸收的Beer法則（Beer’s law for canopy absorption）、Wood的SunScan冠層分析方程以及Campbell的橢圓葉面角度分布方程 (Campbell’s Ellipsoidal LAD equations)，使用光量子傳感器來測量、計算和分析植物冠層截獲和穿透的光合有效輻射及葉面積指數(shù)。

三、組成：

SunScan探測器；反射系數(shù)傳感器；數(shù)據(jù)采集終端；SunData軟件；三角架

四、參數(shù)：

1、  探測器工作區(qū)域：1000x13mm寬，傳感器間距15.6mm

2、  探測器光譜響應(yīng)：400-700nm (PAR)；

3、  探測器測量時間：120ms；

4、  探測器分辨率：0.3μmol. m^-2.s^-1；

5、  探測器zui大讀數(shù)：2500μmol.m^-2.s^-1

6、  操作溫度：0 - 60 °C；

7、  BF3電纜長度：標(biāo)準(zhǔn)為7米，可擴(kuò)展到100米；

8、  BF3無線連接方式；

9、  內(nèi)存：2M內(nèi)存，包含程序；1600K RAM 可用于儲存數(shù)據(jù)；

五、產(chǎn)地： 英國